电子元器件质量可靠性分析验证装置

被引：0

申请号：

CN202220877616.7

申请日：

2022-04-15

公开(公告)号：

CN217931831U

公开(公告)日：

2022-11-29

发明(设计)人：

张耀王薇沈金华

申请人：

申请人地址：

211100 江苏省南京市江北新区星火路17号创智大厦A座12楼

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

南京泰普专利代理事务所(普通合伙) 32360

代理人：

张帆

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-29	授权	授权

共 50 条

[1]

一种元器件质量可靠性分析验证器的防护结构 [P].

谷圣龙 .

中国专利 :CN221685846U ,2024-09-10

[2]

电子元器件动态可靠性监测装置 [P].

邰庚年 .

中国专利 :CN88211491U ,1988-12-28

[3]

一种汽车电子元器件可靠性测试装置 [P].

祁辉 ;

陈孔云 ;

高明亮 .

中国专利 :CN217384584U ,2022-09-06

[4]

基于质量提升的可靠性分析设计方法及系统 [P].

谭诚 ;

仵阳 ;

马百雪 ;

马洪刚 ;

袁琪 ;

桂坚斌 ;

孔文艳 .

中国专利 :CN115374561A ,2022-11-22

[5]

一种电子元器件质量检测装置 [P].

陈松林 ;

余瑞雄 .

中国专利 :CN218272528U ,2023-01-10

[6]

一种电子元器件质量检测装置 [P].

马冉 ;

程俊铭 .

中国专利 :CN218297219U ,2023-01-13

[7]

电子元器件动态可靠性监测电接口夹具 [P].

邰庚年 ;

邰齐年 .

中国专利 :CN88211492U ,1988-12-28

[8]

电子元器件的性能和可靠性检测设备（EOL） [P].

朱丹阳 ;

秦旭阳 ;

卢熙元 ;

常志强 ;

武状 ;

梁航 ;

相微 ;

赵轶楠 ;

关博文 .

中国专利 :CN308732101S ,2024-07-16

[9]

一种电子元器件的可靠性预测系统 [P].

刘超铭 ;

高乐 ;

王铭峥 ;

王天琦 ;

霍明学 ;

张延清 ;

齐春华 ;

马国亮 .

中国专利 :CN118211482B ,2025-06-27

[10]

一种电子元器件的可靠性预测系统 [P].

刘超铭 ;

高乐 ;

王铭峥 ;

王天琦 ;

霍明学 ;

张延清 ;

齐春华 ;

马国亮 .

中国专利 :CN118211482A ,2024-06-18

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