一种汽车电子元器件可靠性测试装置

被引:0
申请号
CN202221361276.9
申请日
2022-06-01
公开(公告)号
CN217384584U
公开(公告)日
2022-09-06
发明(设计)人
祁辉 陈孔云 高明亮
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市南山区沙河西路3011号白沙物流公司仓库之二1楼A区
IPC主分类号
G01M302
IPC分类号
代理机构
深圳市育科知识产权代理有限公司 44509
代理人
何凯威
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
多任务多温度段同时进行汽车电子元器件可靠性测试装置 [P]. 
董宁 ;
陈益思 ;
黄庆 .
中国专利 :CN108037064A ,2018-05-15
[2]
电子元器件动态可靠性监测装置 [P]. 
邰庚年 .
中国专利 :CN88211491U ,1988-12-28
[3]
多任务多温度段同时进行汽车电子元器件可靠性测试机构 [P]. 
董宁 ;
陈益思 ;
黄庆 .
中国专利 :CN207964573U ,2018-10-12
[4]
一种电子元器件测试装置 [P]. 
张勇 ;
夏欢 ;
王耀辉 .
中国专利 :CN207263797U ,2018-04-20
[5]
一种电子元器件测试装置 [P]. 
马睿 ;
代云启 ;
张志刚 .
中国专利 :CN206074755U ,2017-04-05
[6]
一种电子元器件测试装置 [P]. 
邹智鹏 .
中国专利 :CN212845687U ,2021-03-30
[7]
一种电子元器件测试装置 [P]. 
史金屏 .
中国专利 :CN221426803U ,2024-07-26
[8]
一种电子元器件测试装置 [P]. 
潘帮哲 ;
刘静 ;
谭吉涛 ;
谭丽娟 .
中国专利 :CN217901908U ,2022-11-25
[9]
一种电子元器件测试装置 [P]. 
许晓伟 .
中国专利 :CN217156696U ,2022-08-09
[10]
一种电子元器件载带测试装置 [P]. 
龚卫锋 ;
万青 .
中国专利 :CN222293153U ,2025-01-03