半导体结构的形成方法

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申请号
CN202110319598.0
申请日
2021-03-25
公开(公告)号
CN115132660A
公开(公告)日
2022-09-30
发明(设计)人
王福喜 王静 崇二敏
申请人
申请人地址
201203 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区张江路18号
IPC主分类号
H01L218238
IPC分类号
代理机构
上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31327
代理人
高静
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
半导体结构的形成方法 [P]. 
王福喜 ;
王静 ;
崇二敏 .
中国专利 :CN115132660B ,2025-11-28
[2]
半导体结构的形成方法 [P]. 
贺鑫 .
中国专利 :CN108122844B ,2018-06-05
[3]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
司进 ;
殷立强 ;
李凤美 ;
崇二敏 ;
张海洋 .
中国专利 :CN118800774A ,2024-10-18
[4]
半导体结构的形成方法 [P]. 
禹国宾 .
中国专利 :CN106486357A ,2017-03-08
[5]
半导体结构的形成方法 [P]. 
毛刚 ;
俞少峰 ;
陈林林 ;
杨正睿 ;
虞肖鹏 .
中国专利 :CN105097532A ,2015-11-25
[6]
半导体结构的形成方法 [P]. 
周飞 .
中国专利 :CN107799409B ,2018-03-13
[7]
半导体结构的形成方法 [P]. 
吴轶超 .
中国专利 :CN117672829A ,2024-03-08
[8]
半导体结构的形成方法 [P]. 
赵振阳 ;
张恩宁 .
中国专利 :CN118116806A ,2024-05-31
[9]
半导体结构的形成方法 [P]. 
徐建华 .
中国专利 :CN106158649A ,2016-11-23
[10]
半导体结构的形成方法 [P]. 
张庆 .
中国专利 :CN115132657B ,2025-06-24