集成电路标识自检验

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201310551803.1
申请日
2013-11-08
公开(公告)号
CN103902940A
公开(公告)日
2014-07-02
发明(设计)人
迪奥里奥·CJ
申请人
申请人地址
中国香港新界沙田火炭山尾街31-41号A座22层13室
IPC主分类号
G06K700
IPC分类号
G06K1907 G06F1108
代理机构
宁波理文知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 33244
代理人
孟湘明
法律状态
发明专利申请公布后的视为撤回
国省代码
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共 50 条
[1]
集成电路标签 [P]. 
时光洁 .
中国专利 :CN307464040S ,2022-07-22
[2]
集成电路标签 [P]. 
山阴正辉 ;
田口克久 ;
长谷川智幸 ;
高原徹 .
中国专利 :CN1653485A ,2005-08-10
[3]
集成电路标签 [P]. 
中野登茂子 ;
藤泽直广 ;
宫岛庆一 ;
蓑岛建司 .
中国专利 :CN302414795S ,2013-04-24
[4]
集成电路标签 [P]. 
中野登茂子 ;
藤泽直广 ;
宫岛庆一 ;
蓑岛建司 .
中国专利 :CN302414794S ,2013-04-24
[5]
集成电路标签 [P]. 
伏见隆弘 .
中国专利 :CN301149231D ,2010-03-03
[6]
集成电路标签 [P]. 
高桥正树 ;
大山邦启 .
中国专利 :CN301895082S ,2012-04-25
[7]
一种集成电路标识印刷装置 [P]. 
艾育林 ;
林延海 .
中国专利 :CN220615212U ,2024-03-19
[8]
集成电路标签以及集成电路标签的制造方法 [P]. 
中野登茂子 ;
山田武司 ;
宫嶋庆一 .
中国专利 :CN109075449A ,2018-12-21
[9]
集成电路的标识 [P]. 
米奥德拉格·波特科尼亚克 .
中国专利 :CN102422169B ,2012-04-18
[10]
检验集成电路的方法 [P]. 
马休斯·埃琴 ;
亚历山大·克兹 .
中国专利 :CN1363841A ,2002-08-14