光学元件测量装置和测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410083597.0

申请日：

2014-03-07

公开(公告)号：

CN103884489B

公开(公告)日：

2014-06-25

发明(设计)人：

张玉奇王江峰黄文发彭宇杰乔治蒋志龙

申请人：

申请人地址：

201800 上海市嘉定区800－211邮政信箱

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

代理机构：

上海新天专利代理有限公司 31213

代理人：

张泽纯

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-04-13	授权	授权
2014-07-16	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101583889508 IPC(主分类):G01M 11/02 专利申请号:2014100835970 申请日:20140307
2014-06-25	公开	公开

共 50 条

[1]

测量方法、测量装置和光学元件的制造方法 [P].

杉本智洋 .

中国专利 :CN106226032A ,2016-12-14

[2]

光学元件多模态原位缺陷测量装置和测量方法 [P].

刘世杰 ;

倪开灶 ;

邹超逸 ;

邵建达 ;

王微微 ;

李英甲 .

中国专利 :CN112229606A ,2021-01-15

[3]

光学测量装置和光学测量方法 [P].

今泉良一 ;

谷口一郎 .

中国专利 :CN111795642A ,2020-10-20

[4]

光学测量装置和光学测量方法 [P].

峰邑浩行 ;

大泽贤太郎 .

中国专利 :CN105973845A ,2016-09-28

[5]

光学测量装置和光学测量方法 [P].

濱田基明 .

中国专利 :CN102565005A ,2012-07-11

[6]

光学测量装置和光学测量方法 [P].

今泉良一 ;

谷口一郎 .

日本专利 :CN111795642B ,2024-06-18

[7]

光学测量装置和光学测量方法 [P].

铃木俊平 ;

今西慎吾 ;

桥本学治 ;

堂胁优 .

中国专利 :CN102192872B ,2011-09-21

[8]

光学测量装置和光学测量方法 [P].

郑媛 ;

陈大志 .

中国专利 :CN102654465A ,2012-09-05

[9]

折射率测量方法、测量装置和光学元件制造方法 [P].

杉本智洋 .

中国专利 :CN106248623A ,2016-12-21

[10]

光学测量装置和光学测量方法 [P].

陈大志 ;

郑媛 ;

孙晓伟 ;

史伟杰 .

中国专利 :CN102645437A ,2012-08-22

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