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半导体结构的形成方法及半导体结构
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010813668.3
申请日
:
2020-08-13
公开(公告)号
:
CN114078776A
公开(公告)日
:
2022-02-22
发明(设计)人
:
王凌翔
申请人
:
申请人地址
:
230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
IPC主分类号
:
H01L218242
IPC分类号
:
H01L27108
代理机构
:
上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260
代理人
:
成丽杰
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-03-11
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/8242 申请日:20200813
2022-02-22
公开
公开
共 50 条
[1]
半导体结构的形成方法及半导体结构
[P].
王凌翔
论文数:
0
引用数:
0
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0
王凌翔
.
中国专利
:CN114078777A
,2022-02-22
[2]
半导体结构及半导体结构的形成方法
[P].
杨成成
论文数:
0
引用数:
0
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0
杨成成
.
中国专利
:CN113851579A
,2021-12-28
[3]
半导体结构及半导体结构的形成方法
[P].
杨成成
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
杨成成
.
中国专利
:CN113851579B
,2025-02-25
[4]
半导体结构及半导体结构的形成方法
[P].
杨成成
论文数:
0
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0
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0
杨成成
;
夏文斌
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夏文斌
;
张宏
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张宏
;
王能语
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0
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0
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王能语
;
李德涛
论文数:
0
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0
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0
李德涛
.
中国专利
:CN113838883A
,2021-12-24
[5]
半导体结构及半导体结构的形成方法
[P].
刘晓阳
论文数:
0
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0
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机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
刘晓阳
.
中国专利
:CN117956783A
,2024-04-30
[6]
半导体结构的形成方法及半导体结构
[P].
刘志拯
论文数:
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0
机构:
长鑫存储技术有限公司
长鑫存储技术有限公司
刘志拯
.
中国专利
:CN114446869B
,2024-06-07
[7]
半导体结构及半导体结构的形成方法
[P].
甘露
论文数:
0
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机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
甘露
;
郑春生
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机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
郑春生
;
师兰芳
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机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
师兰芳
;
张文广
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机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
张文广
;
张华
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机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
张华
.
中国专利
:CN113496874B
,2024-04-19
[8]
半导体结构及半导体结构的形成方法
[P].
周飞
论文数:
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0
周飞
.
中国专利
:CN113314601A
,2021-08-27
[9]
半导体结构及半导体结构的形成方法
[P].
神兆旭
论文数:
0
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机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
神兆旭
;
李阳
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0
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机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
李阳
;
郭俊伟
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机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
郭俊伟
;
尹悦
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机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
尹悦
.
中国专利
:CN117954420A
,2024-04-30
[10]
半导体结构及半导体结构的形成方法
[P].
刘继全
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机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
刘继全
.
中国专利
:CN117766512A
,2024-03-26
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