一种物体表面平整度检测方法及其检测设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110277617.8

申请日：

2021-03-15

公开(公告)号：

CN113155060A

公开(公告)日：

2021-07-23

发明(设计)人：

王振兴

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市光明新区公明办事处田寮社区光明高新园西区七号侨德科技园厂房B栋六楼

IPC主分类号：

G01B1130

IPC分类号：

代理机构：

深圳市凯达知识产权事务所 44256

代理人：

刘大弯

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-07-23	公开	公开
2021-08-10	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/30 申请日:20210315
2022-11-08	专利申请权、专利权的转移	专利申请权的转移 IPC(主分类):G01B 11/30 登记生效日:20221026 变更事项:申请人变更前权利人:深圳市度彼电子有限公司变更后权利人:深圳市杜比激光有限公司变更事项:地址变更前权利人:518000 广东省深圳市光明新区公明办事处田寮社区光明高新园西区七号侨德科技园厂房B栋六楼变更后权利人:518000 广东省深圳市宝安区石岩街道塘头社区塘头第一工业区E栋四层

共 50 条

[1]

一种物体表面平整度检测设备 [P].

王振兴 .

中国专利 :CN216246150U ,2022-04-08

[2]

一种物体表面平整度检测设备 [P].

李振岚 ;

王子豪 ;

何宇昊 ;

庄熠垅 ;

游锦煌 .

中国专利 :CN222865907U ,2025-05-13

[3]

平整度检测设备、检测件和平整度检测方法 [P].

于子鹏 .

中国专利 :CN111272112A ,2020-06-12

[4]

平整度检测设备、检测件和平整度检测方法 [P].

于子鹏 .

中国专利 :CN111272112B ,2024-12-31

[5]

建筑表面平整度检测方法 [P].

何涛 ;

任海军 ;

陈端圣 ;

朱继胜 ;

李倬 ;

杨满宏 ;

石飞 .

中国专利 :CN102538739A ,2012-07-04

[6]

一种晶体表面平整度检测设备 [P].

邹维 ;

陈炳寺 .

中国专利 :CN215491641U ,2022-01-11

[7]

刮刀平整度检测设备和刮刀平整度检测方法 [P].

王志国 .

中国专利 :CN118067046B ,2025-01-28

[8]

刮刀平整度检测设备和刮刀平整度检测方法 [P].

王志国 .

中国专利 :CN118067046A ,2024-05-24

[9]

物体表面平整度的检测方法、装置、电子装置和存储介质 [P].

周云柯 ;

刘羽 ;

周璐 .

中国专利 :CN112414326B ,2021-02-26

[10]

平整度检测工装及平整度检测方法 [P].

徐宝家 ;

刘刚 ;

陈凯伦 ;

魏昌宏 ;

梁力兴 ;

沈银雷 ;

李魁 ;

王菁 .

中国专利 :CN115540726A ,2022-12-30

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