物体表面平整度的检测方法、装置、电子装置和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011246673.7

申请日：

2020-11-10

公开(公告)号：

CN112414326B

公开(公告)日：

2021-02-26

发明(设计)人：

周云柯刘羽周璐

申请人：

申请人地址：

310051 浙江省杭州市滨江区滨安路1181号A幢8层

IPC主分类号：

G01B1130

IPC分类号：

代理机构：

杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250

代理人：

贺才杰

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-02-26	公开	公开
2021-03-16	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/30 申请日:20201110
2021-08-06	著录事项变更	著录事项变更 IPC(主分类):G01B 11/30 变更事项:申请人变更前:浙江华睿科技有限公司变更后:浙江华睿科技股份有限公司变更事项:地址变更前:310051 浙江省杭州市滨江区滨安路1199号C10 变更后:310051 浙江省杭州市滨江区滨安路1181号A幢8层
2022-05-20	授权	授权

共 50 条

[1]

物体表面平整度快速测量装置 [P].

仲东明 .

中国专利 :CN108387188A ,2018-08-10

[2]

一种物体表面平整度检测方法及其检测设备 [P].

王振兴 .

中国专利 :CN113155060A ,2021-07-23

[3]

门体表面平整度的检测方法与装置 [P].

马坚 ;

郑仰才 ;

段志国 ;

夏中良 ;

张帅 ;

王明强 .

中国专利 :CN112179295A ,2021-01-05

[4]

一种物体表面平整度检测设备 [P].

王振兴 .

中国专利 :CN216246150U ,2022-04-08

[5]

平整度检测方法、设备和存储介质 [P].

周正 ;

屈辉现 ;

周禹轩 ;

程宏 ;

张波 ;

曾俊钢 ;

曾繁智 ;

张春磊 ;

吴丹文 ;

马莹莹 .

中国专利 :CN118730030A ,2024-10-01

[6]

物体表面划痕检测方法、装置、设备和存储介质 [P].

王凤阳 ;

贾淇超 ;

周靖超 ;

贾冬冬 ;

王艳纳 ;

王子萁 .

中国专利 :CN115546602A ,2022-12-30

[7]

工件表面平整度检测装置 [P].

姜龙明 .

中国专利 :CN203083514U ,2013-07-24

[8]

平整度检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王历 ;

夏艺菲 ;

苗海委 ;

周剑 ;

李泽源 .

中国专利 :CN119935027A ,2025-05-06

[9]

平整度检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张磊 ;

张诗文 .

中国专利 :CN118816767A ,2024-10-22

[10]

平整度检测方法、装置、设备及存储介质 [P].

陈亮 .

中国专利 :CN120876433A ,2025-10-31

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