测试系统及其测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200910171753.8

申请日：

2009-09-02

公开(公告)号：

CN102004682B

公开(公告)日：

2011-04-06

发明(设计)人：

陈俊诚

申请人：

申请人地址：

中国台湾桃园县

IPC主分类号：

G06F1122

IPC分类号：

代理机构：

北京市柳沈律师事务所 11105

代理人：

史新宏

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-04-06	公开	公开
2013-01-23	授权	授权
2011-05-25	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101072508250 IPC(主分类):G06F 11/22 专利申请号:2009101717538 申请日:20090902

共 50 条

[1]

电源测试系统及其测试方法 [P].

张堃圣 ;

郑荣宗 ;

许致华 ;

陈民峰 .

中国专利 :CN108333529B ,2018-07-27

[2]

测试系统及其测试方法 [P].

孙佑良 .

中国专利 :CN101964729A ,2011-02-02

[3]

测试设备、测试系统及其测试方法 [P].

张楠楠 ;

是蓉珠 ;

陆鹏 .

中国专利 :CN109765148A ,2019-05-17

[4]

存储器测试系统及其测试方法 [P].

何浩 ;

陆丹 ;

汪洋 .

中国专利 :CN113450865B ,2021-09-28

[5]

测试方法、测试系统及其测试装置 [P].

罗积辉 ;

苏国辉 ;

吕荔 ;

龚志伟 ;

牛海清 ;

全衡军 ;

孟宪龙 .

中国专利 :CN106066441A ,2016-11-02

[6]

测试装置、测试方法和测试系统 [P].

徐张坤 ;

韩统亮 .

中国专利 :CN118398067A ,2024-07-26

[7]

测试装置、测试系统以及测试方法 [P].

吕俊毅 .

中国专利 :CN104977483A ,2015-10-14

[8]

测试系统及其测试装置与测试方法 [P].

丁伟修 .

中国专利 :CN117732749A ,2024-03-22

[9]

核心板测试系统及其测试方法 [P].

潘创创 ;

厉琼莹 ;

齐利敏 ;

吴仕勇 ;

刘小玲 .

中国专利 :CN113359010A ,2021-09-07

[10]

隔膜缺陷测试系统及其测试方法 [P].

王迎利 ;

鲍晋珍 ;

宁诗瑜 ;

袁凯杰 ;

庄志 .

中国专利 :CN118032811A ,2024-05-14

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