存储器测试系统及其测试方法

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专利类型
发明
申请号
CN202010221644.9
申请日
2020-03-26
公开(公告)号
CN113450865B
公开(公告)日
2021-09-28
发明(设计)人
何浩 陆丹 汪洋
申请人
申请人地址
230000 安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室
IPC主分类号
G11C2956
IPC分类号
G06F1122
代理机构
北京律智知识产权代理有限公司 11438
代理人
王辉;阚梓瑄
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
存储器测试系统及存储器测试方法 [P]. 
张卫华 ;
喻梅 .
中国专利 :CN103093829A ,2013-05-08
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存储器测试方法与存储器测试系统 [P]. 
林小东 ;
邱智鸿 ;
罗焜聪 ;
张朝凯 .
中国专利 :CN110875081B ,2020-03-10
[3]
存储器测试系统及存储器测试方法 [P]. 
高劭伟 ;
林昭宇 .
中国专利 :CN118824343A ,2024-10-22
[4]
存储器系统、存储器测试系统及其测试方法 [P]. 
赵秀行 ;
宋基在 ;
徐成东 ;
河镜虎 ;
金圣九 ;
金永今 ;
赵寅成 .
中国专利 :CN101794625A ,2010-08-04
[5]
存储器测试系统及存储器测试方法 [P]. 
陈建宇 .
中国专利 :CN118053490A ,2024-05-17
[6]
存储器测试系统以及存储器测试方法 [P]. 
郑文昌 .
中国专利 :CN103811080B ,2014-05-21
[7]
存储器测试系统和存储器测试方法 [P]. 
许钲鼎 ;
廖永煌 .
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存储器、存储器测试系统以及存储器测试方法 [P]. 
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[9]
存储器、存储器测试系统以及存储器测试方法 [P]. 
王佳 .
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存储器测试系统及其测试方法 [P]. 
张昆辉 .
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