存储器测试系统及存储器测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202310657665.9

申请日：

2023-06-05

公开(公告)号：

CN118824343A

公开(公告)日：

2024-10-22

发明(设计)人：

高劭伟林昭宇

申请人：

慧荣科技股份有限公司

申请人地址：

中国台湾新竹县竹北市台元街36号8楼之1

IPC主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

代理机构：

北京派特恩知识产权代理有限公司 11270

代理人：

康艳青;张铮铮

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-08	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/56申请日:20230605
2024-10-22	公开	公开

共 50 条

[1]

存储器测试系统及存储器测试方法 [P].

张卫华 ;

喻梅 .

中国专利 :CN103093829A ,2013-05-08

[2]

存储器测试方法与存储器测试系统 [P].

林小东 ;

邱智鸿 ;

罗焜聪 ;

张朝凯 .

中国专利 :CN110875081B ,2020-03-10

[3]

存储器测试系统及存储器测试方法 [P].

陈建宇 .

中国专利 :CN118053490A ,2024-05-17

[4]

存储器、存储器测试系统以及存储器测试方法 [P].

王佳 .

中国专利 :CN114496050B ,2024-12-06

[5]

存储器、存储器测试系统以及存储器测试方法 [P].

王佳 .

中国专利 :CN114496050A ,2022-05-13

[6]

存储器测试系统以及存储器测试方法 [P].

郑文昌 .

中国专利 :CN103811080B ,2014-05-21

[7]

存储器测试系统和存储器测试方法 [P].

许钲鼎 ;

廖永煌 .

中国专利 :CN118737238A ,2024-10-01

[8]

存储器测试模组、存储器芯片、存储器芯片测试系统及方法 [P].

冯旭 ;

李卫 ;

付永庆 .

中国专利 :CN118782134B ,2025-06-13

[9]

存储器测试模组、存储器芯片、存储器芯片测试系统及方法 [P].

冯旭 ;

李卫 ;

付永庆 .

中国专利 :CN118782134A ,2024-10-15

[10]

存储器测试装置和存储器测试方法 [P].

濮必得 ;

殷和国 .

中国专利 :CN118571304A ,2024-08-30

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