存储器测试模组、存储器芯片、存储器芯片测试系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202310362785.6

申请日：

2023-04-06

公开(公告)号：

CN118782134B

公开(公告)日：

2025-06-13

发明(设计)人：

冯旭李卫付永庆

申请人：

兆易创新科技集团股份有限公司

申请人地址：

100094 北京市海淀区丰豪东路9号院8号楼1至5层101

IPC主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

代理机构：

上海思捷知识产权代理有限公司 31295

代理人：

钟晶

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-11-01	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/56申请日:20230406
2025-06-13	授权	授权
2024-10-15	公开	公开

共 50 条

[1]

存储器测试模组、存储器芯片、存储器芯片测试系统及方法 [P].

冯旭 ;

李卫 ;

付永庆 .

中国专利 :CN118782134A ,2024-10-15

[2]

存储器测试装置、三维堆叠存储器芯片及存储器测试方法和系统 [P].

董俞鹏 .

中国专利 :CN120260657A ,2025-07-04

[3]

存储器测试装置、三维堆叠存储器芯片及存储器测试方法和系统 [P].

董俞鹏 .

中国专利 :CN120260657B ,2025-08-19

[4]

一种存储器测试方法、存储器芯片及存储器系统 [P].

拜福君 ;

孙宏滨 .

中国专利 :CN112164416B ,2021-01-01

[5]

存储器、存储器测试系统以及存储器测试方法 [P].

王佳 .

中国专利 :CN114496050B ,2024-12-06

[6]

存储器、存储器测试系统以及存储器测试方法 [P].

王佳 .

中国专利 :CN114496050A ,2022-05-13

[7]

存储器测试系统及存储器测试方法 [P].

张卫华 ;

喻梅 .

中国专利 :CN103093829A ,2013-05-08

[8]

存储器测试系统及存储器测试方法 [P].

陈建宇 .

中国专利 :CN118053490A ,2024-05-17

[9]

存储器测试系统及存储器测试方法 [P].

高劭伟 ;

林昭宇 .

中国专利 :CN118824343A ,2024-10-22

[10]

存储器测试方法及芯片 [P].

方盼 ;

苏绩 ;

方运田 ;

郭宁 ;

孙超扬 .

中国专利 :CN118711646A ,2024-09-27

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