存储器、存储器测试系统以及存储器测试方法

被引：0

申请号：

CN202011166903.9

申请日：

2020-10-27

公开(公告)号：

CN114496050A

公开(公告)日：

2022-05-13

发明(设计)人：

王佳

申请人：

申请人地址：

230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号

IPC主分类号：

G11C2912

IPC分类号：

G11C2956

代理机构：

上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260

代理人：

成丽杰

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-05-31	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G11C 29/12 申请日:20201027
2022-05-13	公开	公开

共 50 条

[1]

存储器、存储器测试系统以及存储器测试方法 [P].

王佳 .

中国专利 :CN114496050B ,2024-12-06

[2]

存储器和存储器测试系统 [P].

王佳 .

中国专利 :CN213459060U ,2021-06-15

[3]

存储器测试系统以及存储器测试方法 [P].

郑文昌 .

中国专利 :CN103811080B ,2014-05-21

[4]

存储器系统、存储器测试系统及其测试方法 [P].

赵秀行 ;

宋基在 ;

徐成东 ;

河镜虎 ;

金圣九 ;

金永今 ;

赵寅成 .

中国专利 :CN101794625A ,2010-08-04

[5]

存储器测试系统及存储器测试方法 [P].

张卫华 ;

喻梅 .

中国专利 :CN103093829A ,2013-05-08

[6]

存储器测试系统及存储器测试方法 [P].

陈建宇 .

中国专利 :CN118053490A ,2024-05-17

[7]

存储器测试方法与存储器测试系统 [P].

林小东 ;

邱智鸿 ;

罗焜聪 ;

张朝凯 .

中国专利 :CN110875081B ,2020-03-10

[8]

存储器测试系统及存储器测试方法 [P].

高劭伟 ;

林昭宇 .

中国专利 :CN118824343A ,2024-10-22

[9]

存储器测试系统和存储器测试方法 [P].

许钲鼎 ;

廖永煌 .

中国专利 :CN118737238A ,2024-10-01

[10]

存储器测试模组、存储器芯片、存储器芯片测试系统及方法 [P].

冯旭 ;

李卫 ;

付永庆 .

中国专利 :CN118782134B ,2025-06-13

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