存储器和存储器测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202022446104.9

申请日：

2020-10-27

公开(公告)号：

CN213459060U

公开(公告)日：

2021-06-15

发明(设计)人：

王佳

申请人：

申请人地址：

230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号

IPC主分类号：

G11C2912

IPC分类号：

G11C2956

代理机构：

上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260

代理人：

成丽杰

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-06-15	授权	授权

共 50 条

[1]

存储器、存储器测试系统以及存储器测试方法 [P].

王佳 .

中国专利 :CN114496050A ,2022-05-13

[2]

存储器、存储器测试系统以及存储器测试方法 [P].

王佳 .

中国专利 :CN114496050B ,2024-12-06

[3]

存储器系统、存储器测试系统及其测试方法 [P].

赵秀行 ;

宋基在 ;

徐成东 ;

河镜虎 ;

金圣九 ;

金永今 ;

赵寅成 .

中国专利 :CN101794625A ,2010-08-04

[4]

存储器测试系统和存储器测试方法 [P].

许钲鼎 ;

廖永煌 .

中国专利 :CN118737238A ,2024-10-01

[5]

存储器装置、存储器装置测试方法和测试系统 [P].

陈泓俊 ;

崔原英 ;

金充满 ;

李永锡 .

韩国专利 :CN118262780A ,2024-06-28

[6]

存储器测试系统及存储器测试方法 [P].

张卫华 ;

喻梅 .

中国专利 :CN103093829A ,2013-05-08

[7]

存储器测试系统及存储器测试方法 [P].

陈建宇 .

中国专利 :CN118053490A ,2024-05-17

[8]

存储器测试系统以及存储器测试方法 [P].

郑文昌 .

中国专利 :CN103811080B ,2014-05-21

[9]

存储器测试方法与存储器测试系统 [P].

林小东 ;

邱智鸿 ;

罗焜聪 ;

张朝凯 .

中国专利 :CN110875081B ,2020-03-10

[10]

存储器测试系统及存储器测试方法 [P].

高劭伟 ;

林昭宇 .

中国专利 :CN118824343A ,2024-10-22

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