存储器测试系统及存储器测试方法

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专利类型
发明
申请号
CN201110332054.4
申请日
2011-10-27
公开(公告)号
CN103093829A
公开(公告)日
2013-05-08
发明(设计)人
张卫华 喻梅
申请人
申请人地址
430074 湖北省武汉市珞瑜路716号华乐商务中心806室
IPC主分类号
G11C2912
IPC分类号
代理机构
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277
代理人
刘新宇
法律状态
实质审查的生效
国省代码
引用
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共 50 条
[1]
存储器测试系统及存储器测试方法 [P]. 
高劭伟 ;
林昭宇 .
中国专利 :CN118824343A ,2024-10-22
[2]
存储器测试方法与存储器测试系统 [P]. 
林小东 ;
邱智鸿 ;
罗焜聪 ;
张朝凯 .
中国专利 :CN110875081B ,2020-03-10
[3]
存储器测试系统及存储器测试方法 [P]. 
陈建宇 .
中国专利 :CN118053490A ,2024-05-17
[4]
存储器、存储器测试系统以及存储器测试方法 [P]. 
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[5]
存储器、存储器测试系统以及存储器测试方法 [P]. 
王佳 .
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[6]
存储器测试装置和存储器测试方法 [P]. 
濮必得 ;
殷和国 .
中国专利 :CN118571304A ,2024-08-30
[7]
存储器测试装置和存储器测试方法 [P]. 
濮必得 ;
殷和国 .
中国专利 :CN118571304B ,2024-11-05
[8]
存储器测试装置及存储器测试方法 [P]. 
中本幸夫 .
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[9]
存储器测试系统以及存储器测试方法 [P]. 
郑文昌 .
中国专利 :CN103811080B ,2014-05-21
[10]
存储器测试系统和存储器测试方法 [P]. 
许钲鼎 ;
廖永煌 .
中国专利 :CN118737238A ,2024-10-01