存储器测试装置和存储器测试方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411001179.2

申请日：

2024-07-25

公开(公告)号：

CN118571304B

公开(公告)日：

2024-11-05

发明(设计)人：

濮必得殷和国

申请人：

芯梦达半导体科技（济南）有限公司

申请人地址：

250098 山东省济南市中国（山东）自由贸易试验区济南片区舜泰北路789号山东信息通信技术创新产业基地A座19层

IPC主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

代理机构：

深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300

代理人：

李玉婷

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-09-17	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/56申请日:20240725
2024-08-30	公开	公开
2024-11-05	授权	授权

共 50 条

[1]

存储器测试装置和存储器测试方法 [P].

濮必得 ;

殷和国 .

中国专利 :CN118571304A ,2024-08-30

[2]

存储器测试装置与存储器测试方法 [P].

苏锦荣 ;

黄睿夫 .

中国专利 :CN104835536A ,2015-08-12

[3]

存储器测试装置及存储器测试方法 [P].

中本幸夫 .

中国专利 :CN1233059A ,1999-10-27

[4]

存储器测试系统及存储器测试方法 [P].

张卫华 ;

喻梅 .

中国专利 :CN103093829A ,2013-05-08

[5]

宽频存储器测试装置及其存储器测试方法 [P].

林哲民 ;

梁志玮 .

中国专利 :CN105321580A ,2016-02-10

[6]

存储器测试系统和存储器测试方法 [P].

许钲鼎 ;

廖永煌 .

中国专利 :CN118737238A ,2024-10-01

[7]

存储器测试装置、三维堆叠存储器芯片及存储器测试方法和系统 [P].

董俞鹏 .

中国专利 :CN120260657A ,2025-07-04

[8]

存储器测试装置、三维堆叠存储器芯片及存储器测试方法和系统 [P].

董俞鹏 .

中国专利 :CN120260657B ,2025-08-19

[9]

存储器测试方法与存储器测试系统 [P].

林小东 ;

邱智鸿 ;

罗焜聪 ;

张朝凯 .

中国专利 :CN110875081B ,2020-03-10

[10]

存储器测试系统及存储器测试方法 [P].

高劭伟 ;

林昭宇 .

中国专利 :CN118824343A ,2024-10-22

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