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存储器测试装置及存储器测试方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN99100516.3
申请日
:
1999-01-07
公开(公告)号
:
CN1233059A
公开(公告)日
:
1999-10-27
发明(设计)人
:
中本幸夫
申请人
:
申请人地址
:
日本东京都
IPC主分类号
:
G11C2900
IPC分类号
:
G06F1100
代理机构
:
中国专利代理(香港)有限公司
代理人
:
叶恺东;王岳
法律状态
:
实质审查请求的生效
国省代码
:
引用
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
1999-08-18
实质审查请求的生效
实质审查请求的生效
1999-10-27
公开
公开
2003-10-29
发明专利申请公布后的视为撤回
发明专利申请公布后的视为撤回
共 50 条
[1]
存储器测试装置与存储器测试方法
[P].
苏锦荣
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
苏锦荣
;
黄睿夫
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
黄睿夫
.
中国专利
:CN104835536A
,2015-08-12
[2]
存储器测试装置和存储器测试方法
[P].
濮必得
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
芯梦达半导体科技(济南)有限公司
芯梦达半导体科技(济南)有限公司
濮必得
;
殷和国
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
芯梦达半导体科技(济南)有限公司
芯梦达半导体科技(济南)有限公司
殷和国
.
中国专利
:CN118571304A
,2024-08-30
[3]
存储器测试装置和存储器测试方法
[P].
濮必得
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
芯梦达半导体科技(济南)有限公司
芯梦达半导体科技(济南)有限公司
濮必得
;
殷和国
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
芯梦达半导体科技(济南)有限公司
芯梦达半导体科技(济南)有限公司
殷和国
.
中国专利
:CN118571304B
,2024-11-05
[4]
存储器测试系统及存储器测试方法
[P].
张卫华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张卫华
;
喻梅
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
喻梅
.
中国专利
:CN103093829A
,2013-05-08
[5]
宽频存储器测试装置及其存储器测试方法
[P].
林哲民
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
林哲民
;
梁志玮
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
梁志玮
.
中国专利
:CN105321580A
,2016-02-10
[6]
存储器测试系统及存储器测试方法
[P].
高劭伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
慧荣科技股份有限公司
慧荣科技股份有限公司
高劭伟
;
林昭宇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
慧荣科技股份有限公司
慧荣科技股份有限公司
林昭宇
.
中国专利
:CN118824343A
,2024-10-22
[7]
存储器测试装置及应用该存储器测试装置的存储器测试机
[P].
资重兴
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
资重兴
;
连绅尧
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
连绅尧
.
中国专利
:CN2845101Y
,2006-12-06
[8]
存储器测试方法、存储器测试装置及其转接器
[P].
何定轩
论文数:
0
引用数:
0
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0
何定轩
;
罗富仁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
罗富仁
.
中国专利
:CN103594121A
,2014-02-19
[9]
存储器测试装置及测试方法
[P].
马亚辉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
苏州元脑智能科技有限公司
苏州元脑智能科技有限公司
马亚辉
.
中国专利
:CN119905137A
,2025-04-29
[10]
存储器测试装置及测试方法
[P].
不公告发明人
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
不公告发明人
.
中国专利
:CN107945834A
,2018-04-20
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