存储器测试装置及存储器测试方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN99100516.3
申请日
1999-01-07
公开(公告)号
CN1233059A
公开(公告)日
1999-10-27
发明(设计)人
中本幸夫
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
G11C2900
IPC分类号
G06F1100
代理机构
中国专利代理(香港)有限公司
代理人
叶恺东;王岳
法律状态
实质审查请求的生效
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
存储器测试装置与存储器测试方法 [P]. 
苏锦荣 ;
黄睿夫 .
中国专利 :CN104835536A ,2015-08-12
[2]
存储器测试装置和存储器测试方法 [P]. 
濮必得 ;
殷和国 .
中国专利 :CN118571304A ,2024-08-30
[3]
存储器测试装置和存储器测试方法 [P]. 
濮必得 ;
殷和国 .
中国专利 :CN118571304B ,2024-11-05
[4]
存储器测试系统及存储器测试方法 [P]. 
张卫华 ;
喻梅 .
中国专利 :CN103093829A ,2013-05-08
[5]
宽频存储器测试装置及其存储器测试方法 [P]. 
林哲民 ;
梁志玮 .
中国专利 :CN105321580A ,2016-02-10
[6]
存储器测试系统及存储器测试方法 [P]. 
高劭伟 ;
林昭宇 .
中国专利 :CN118824343A ,2024-10-22
[7]
存储器测试装置及应用该存储器测试装置的存储器测试机 [P]. 
资重兴 ;
连绅尧 .
中国专利 :CN2845101Y ,2006-12-06
[8]
存储器测试方法、存储器测试装置及其转接器 [P]. 
何定轩 ;
罗富仁 .
中国专利 :CN103594121A ,2014-02-19
[9]
存储器测试装置及测试方法 [P]. 
马亚辉 .
中国专利 :CN119905137A ,2025-04-29
[10]
存储器测试装置及测试方法 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN107945834A ,2018-04-20