一种半导体器件检测用四探针测试仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202020392377.7

申请日：

2020-03-25

公开(公告)号：

CN211905462U

公开(公告)日：

2020-11-10

发明(设计)人：

卫静婷陈利伟

申请人：

申请人地址：

510030 广东省广州市越秀区下塘西路1号

IPC主分类号：

G01R1073

IPC分类号：

G01R3126

代理机构：

深圳市鼎泰正和知识产权代理事务所(普通合伙) 44555

代理人：

周小涛

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-11-10	授权	授权

共 50 条

[1]

用于半导体材料测试的四探针测试仪 [P].

刘伟阳 .

中国专利 :CN212433224U ,2021-01-29

[2]

一种用于半导体材料测试的四探针测试仪 [P].

刘红双 .

中国专利 :CN208999489U ,2019-06-18

[3]

一种四探针测试仪 [P].

翟硕彦 ;

娄中士 ;

王淼 ;

张雪囡 ;

由佰玲 .

中国专利 :CN206193061U ,2017-05-24

[4]

四探针测试仪暗箱 [P].

赵春庆 ;

蒋剑波 ;

莫毓东 ;

吴国运 .

中国专利 :CN202216981U ,2012-05-09

[5]

半导体器件测试仪 [P].

陈元钊 ;

施明明 ;

常兵 ;

邹桂明 .

中国专利 :CN205301514U ,2016-06-08

[6]

一种多点四探针测试仪 [P].

包正军 .

中国专利 :CN221124714U ,2024-06-11

[7]

一种半导体器件检测用测试仪 [P].

温焱升 ;

康树军 ;

刘桂珍 .

中国专利 :CN221840921U ,2024-10-15

[8]

一种放置台可移动的半导体材料测试用四探针测试仪 [P].

刘成龙 .

中国专利 :CN218099374U ,2022-12-20

[9]

四探针测试仪校准夹具 [P].

李建峰 .

中国专利 :CN201945679U ,2011-08-24

[10]

四探针测试仪外箱 [P].

吴艳芬 ;

陈筑 ;

刘晓巍 ;

林功辉 ;

余涛 ;

詹国平 .

中国专利 :CN202025022U ,2011-11-02

← 1 2 3 4 5 →