半导体器件测试仪

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201620051977.0

申请日：

2016-01-19

公开(公告)号：

CN205301514U

公开(公告)日：

2016-06-08

发明(设计)人：

陈元钊施明明常兵邹桂明

申请人：

申请人地址：

214000 江苏省无锡市南长区南湖大道503号3幢201

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

代理机构：

无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260

代理人：

张欢勇

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-06-08	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体分立器件测试仪 [P].

杜忠勤 .

中国专利 :CN3673436D ,2007-07-25

[2]

微波半导体器件多参数测试仪 [P].

谢丹 ;

陈振琳 ;

丁志钊 .

中国专利 :CN305559126S ,2020-01-17

[3]

一种半导体器件结电容测试仪 [P].

张娜娜 .

中国专利 :CN210037983U ,2020-02-07

[4]

半导体测试仪 [P].

谢晋春 ;

辛吉升 ;

桑浚之 .

中国专利 :CN101458302A ,2009-06-17

[5]

半导体测试仪及其半导体测试台 [P].

张巍巍 .

中国专利 :CN202066940U ,2011-12-07

[6]

一种半导体器件检测用四探针测试仪 [P].

卫静婷 ;

陈利伟 .

中国专利 :CN211905462U ,2020-11-10

[7]

一种半导体器件检测用测试仪 [P].

温焱升 ;

康树军 ;

刘桂珍 .

中国专利 :CN221840921U ,2024-10-15

[8]

半导体参数测试仪 [P].

吉波 ;

段文军 ;

卞荣剑 .

中国专利 :CN307441483S ,2022-07-08

[9]

半导体测试仪测试头的界面板 [P].

桑浚之 ;

辛吉升 .

中国专利 :CN201548560U ,2010-08-11

[10]

一种半导体致冷器件测试仪 [P].

阮秀沧 .

中国专利 :CN208092191U ,2018-11-13

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