半导体测试仪测试头的界面板

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN200920074722.6

申请日：

2009-11-26

公开(公告)号：

CN201548560U

公开(公告)日：

2010-08-11

发明(设计)人：

桑浚之辛吉升

申请人：

申请人地址：

201206 上海市浦东新区川桥路1188号

IPC主分类号：

G01R102

IPC分类号：

代理机构：

上海浦一知识产权代理有限公司 31211

代理人：

张骥

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-01-11	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101697378594 IPC(主分类):G01R 1/02 专利号:ZL2009200747226 申请日:20091126 授权公告日:20100811 终止日期:20151126
2014-02-12	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101690314880 IPC(主分类):G01R 1/02 专利号:ZL2009200747226 变更事项:专利权人变更前权利人:上海华虹NEC电子有限公司变更后权利人:上海华虹宏力半导体制造有限公司变更事项:地址变更前权利人:201206 上海市浦东新区川桥路1188号变更后权利人:201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号登记生效日:20140110
2010-08-11	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体测试仪及其半导体测试台 [P].

张巍巍 .

中国专利 :CN202066940U ,2011-12-07

[2]

半导体测试仪 [P].

谢晋春 ;

辛吉升 ;

桑浚之 .

中国专利 :CN101458302A ,2009-06-17

[3]

半导体参数测试仪 [P].

吉波 ;

段文军 ;

卞荣剑 .

中国专利 :CN307441483S ,2022-07-08

[4]

半导体器件测试仪 [P].

陈元钊 ;

施明明 ;

常兵 ;

邹桂明 .

中国专利 :CN205301514U ,2016-06-08

[5]

用于半导体材料测试的四探针测试仪 [P].

刘伟阳 .

中国专利 :CN212433224U ,2021-01-29

[6]

半导体分立器件测试仪 [P].

杜忠勤 .

中国专利 :CN3673436D ,2007-07-25

[7]

一种半导体应力测试仪 [P].

沈军 .

中国专利 :CN221992887U ,2024-11-12

[8]

一种半导体线宽测试仪 [P].

乔晓丹 ;

洪哲 ;

徐兆存 ;

阙琦琦 ;

林紹瑜 ;

王建安 ;

刘伟 ;

张云飞 ;

何君 .

中国专利 :CN212963271U ,2021-04-13

[9]

半导体测试仪的程序执行系统 [P].

山下安吉 .

中国专利 :CN1293388C ,2002-10-16

[10]

一种用于半导体材料测试的四探针测试仪 [P].

刘红双 .

中国专利 :CN208999489U ,2019-06-18

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