半导体测试仪

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200710094450.1

申请日：

2007-12-13

公开(公告)号：

CN101458302A

公开(公告)日：

2009-06-17

发明(设计)人：

谢晋春辛吉升桑浚之

申请人：

申请人地址：

201206上海市浦东新区川桥路1188号

IPC主分类号：

G01R31317

IPC分类号：

G01R313181 G06F1300

代理机构：

上海浦一知识产权代理有限公司

代理人：

周赤

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2009-06-17	公开	公开
2009-08-12	实质审查的生效	实质审查的生效
2014-02-12	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101690326277 IPC(主分类):G01R 31/317 专利号:ZL2007100944501 变更事项:专利权人变更前权利人:上海华虹NEC电子有限公司变更后权利人:上海华虹宏力半导体制造有限公司变更事项:地址变更前权利人:201206 上海市浦东新区川桥路1188号变更后权利人:201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号登记生效日:20140110
2012-02-15	授权	授权

共 50 条

[1]

半导体参数测试仪 [P].

吉波 ;

段文军 ;

卞荣剑 .

中国专利 :CN307441483S ,2022-07-08

[2]

半导体测试仪及其半导体测试台 [P].

张巍巍 .

中国专利 :CN202066940U ,2011-12-07

[3]

半导体分立器件测试仪 [P].

杜忠勤 .

中国专利 :CN3673436D ,2007-07-25

[4]

半导体器件测试仪 [P].

陈元钊 ;

施明明 ;

常兵 ;

邹桂明 .

中国专利 :CN205301514U ,2016-06-08

[5]

半导体测试仪测试头的界面板 [P].

桑浚之 ;

辛吉升 .

中国专利 :CN201548560U ,2010-08-11

[6]

半导体测试仪的程序执行系统 [P].

山下安吉 .

中国专利 :CN1293388C ,2002-10-16

[7]

一种半导体应力测试仪 [P].

沈军 .

中国专利 :CN221992887U ,2024-11-12

[8]

一种半导体线宽测试仪 [P].

乔晓丹 ;

洪哲 ;

徐兆存 ;

阙琦琦 ;

林紹瑜 ;

王建安 ;

刘伟 ;

张云飞 ;

何君 .

中国专利 :CN212963271U ,2021-04-13

[9]

用于半导体材料测试的四探针测试仪 [P].

刘伟阳 .

中国专利 :CN212433224U ,2021-01-29

[10]

半导体封装推拉力测试仪 [P].

宾利文 .

中国专利 :CN309546067S ,2025-10-17

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