光学结构位移测量方法、系统及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111197575.3

申请日：

2021-10-14

公开(公告)号：

CN113959341A

公开(公告)日：

2022-01-21

发明(设计)人：

于姗姗王卫国

申请人：

申请人地址：

212008 江苏省镇江市京口区梦溪路2号

IPC主分类号：

G01B1102

IPC分类号：

G06V2000 G06V1025 G06V1046 G06V1075 G06K962 G06T700 G06T7246

代理机构：

南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204

代理人：

柏尚春

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-02-15	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/02 申请日:20211014
2022-01-21	公开	公开

共 50 条

[1]

光学结构位移测量方法、系统及存储介质 [P].

于姗姗 ;

王卫国 .

中国专利 :CN113959341B ,2024-04-26

[2]

位移测量方法、系统、设备以及可读存储介质 [P].

符建 ;

刘旭 ;

匡翠方 ;

丁志华 .

中国专利 :CN120491090A ,2025-08-15

[3]

位移测量方法、位移测量装置、电子设备及存储介质 [P].

陈凯 ;

涂春江 .

中国专利 :CN119714142A ,2025-03-28

[4]

位移测量设备及其位移测量方法和存储介质 [P].

藤原馨 .

日本专利 :CN111175776B ,2024-08-13

[5]

位移测量设备及其位移测量方法和存储介质 [P].

藤原馨 .

中国专利 :CN111175776A ,2020-05-19

[6]

光学测量方法、装置、系统及存储介质 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN114018820A ,2022-02-08

[7]

光学位移测量器及位移测量方法 [P].

程达 ;

谢国胜 ;

王书芳 .

中国专利 :CN118706079A ,2024-09-27

[8]

光学位移测量器及位移测量方法 [P].

罗琪 .

中国专利 :CN107421450A ,2017-12-01

[9]

计算机视觉结构位移测量方法、系统、终端和存储介质 [P].

纪晓东 ;

高祥 ;

余越 ;

庄赟城 .

中国专利 :CN117128865B ,2024-07-02

[10]

位移测量装置、测量系统及位移测量方法 [P].

近藤智则 ;

铃木祐太 ;

的场贤一 ;

金谷义宏 .

中国专利 :CN109557545A ,2019-04-02

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