位移测量设备及其位移测量方法和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201911087157.1

申请日：

2019-11-08

公开(公告)号：

CN111175776B

公开(公告)日：

2024-08-13

发明(设计)人：

藤原馨

申请人：

株式会社基恩士

申请人地址：

日本大阪府

IPC主分类号：

G01S17/48

IPC分类号：

G01S7/48 G01S7/481 G01S7/51

代理机构：

北京格罗巴尔知识产权代理事务所(普通合伙) 11406

代理人：

孙德崇

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-13	授权	授权

共 50 条

[1]

位移测量设备及其位移测量方法和存储介质 [P].

藤原馨 .

中国专利 :CN111175776A ,2020-05-19

[2]

位移测量方法、位移测量装置、电子设备及存储介质 [P].

陈凯 ;

涂春江 .

中国专利 :CN119714142A ,2025-03-28

[3]

位移测量装置、位移测量系统和位移测量方法 [P].

曾有军 ;

杨峰 ;

聂义 ;

安文慧 .

中国专利 :CN119197278A ,2024-12-27

[4]

位移测量方法和位移测量装置 [P].

小山胜弘 ;

池田正人 .

中国专利 :CN102834690A ,2012-12-19

[5]

位移测量装置和位移测量方法 [P].

安达聪 ;

徳洋平 ;

长谷川年洋 .

中国专利 :CN105806201A ,2016-07-27

[6]

位移测量装置和位移测量方法 [P].

梅辉 ;

曾有军 ;

安德里亚斯·沃斯 ;

阿明·迈森伯格 .

中国专利 :CN115711570B ,2025-08-08

[7]

位移测量系统和位移测量方法 [P].

蓝天 ;

李泽尧 ;

崔见玉 ;

朱先飞 ;

杨鑫鑫 ;

杨茂坤 ;

黎杰威 .

中国专利 :CN120970464A ,2025-11-18

[8]

位移测量方法、系统、设备以及可读存储介质 [P].

符建 ;

刘旭 ;

匡翠方 ;

丁志华 .

中国专利 :CN120491090A ,2025-08-15

[9]

位移测量装置及位移测量方法 [P].

马海祥 ;

李小龙 ;

冯甫 ;

袁小聪 .

中国专利 :CN119618083A ,2025-03-14

[10]

位移测量装置及位移测量方法 [P].

马海祥 ;

李小龙 ;

冯甫 ;

袁小聪 .

中国专利 :CN119618083B ,2025-04-04

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