学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审

位移测量装置及位移测量方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510167011.7
申请日：
2025-02-14
公开(公告)号：
CN119618083B
公开(公告)日：
2025-04-04
发明(设计)人：
马海祥 李小龙 冯甫 袁小聪
申请人：
之江实验室
申请人地址：
311121 浙江省杭州市余杭区中泰街道科创大道之江实验室
IPC主分类号：
G01B11/02
IPC分类号：
G01S17/08
代理机构：
北京博思佳知识产权代理有限公司 11415
代理人：
王厚莉
法律状态：
公开
国省代码：
浙江省 杭州市
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-03-14 公开 公开
2025-04-01 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/02申请日:20250214
2025-04-04 授权 授权
共 50 条
[1]
位移测量装置及位移测量方法 [P]. 
马海祥 ;
李小龙 ;
冯甫 ;
袁小聪 .
中国专利 :CN119618083A ,2025-03-14
[2]
位移测量装置、测量系统及位移测量方法 [P]. 
近藤智则 ;
铃木祐太 ;
的场贤一 ;
金谷义宏 .
中国专利 :CN109557545A ,2019-04-02
[3]
位移测量装置、位移测量系统和位移测量方法 [P]. 
曾有军 ;
杨峰 ;
聂义 ;
安文慧 .
中国专利 :CN119197278A ,2024-12-27
[4]
位移测量方法和位移测量装置 [P]. 
小山胜弘 ;
池田正人 .
中国专利 :CN102834690A ,2012-12-19
[5]
位移测量装置和位移测量方法 [P]. 
安达聪 ;
徳洋平 ;
长谷川年洋 .
中国专利 :CN105806201A ,2016-07-27
[6]
位移测量装置和位移测量方法 [P]. 
梅辉 ;
曾有军 ;
安德里亚斯·沃斯 ;
阿明·迈森伯格 .
中国专利 :CN115711570B ,2025-08-08
[7]
位移测量方法以及位移测量装置 [P]. 
松井优贵 ;
菅孝博 ;
泷政宏章 .
中国专利 :CN104797904B ,2015-07-22
[8]
位移测量装置及采用该位移测量装置的位移测量方法 [P]. 
汪晓兵 ;
周松萍 ;
周沙 ;
刘伟 .
中国专利 :CN105547123A ,2016-05-04
[9]
位移测量装置、位移测量方法及光刻设备 [P]. 
吴萍 .
中国专利 :CN111457843B ,2020-07-28
[10]
位移测量探头、测量装置及位移测量方法 [P]. 
王三宏 ;
金少峰 ;
杨灏 .
中国专利 :CN115096194A ,2022-09-23
12345