光学参数测量装置及静态消光比的测量方法

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专利类型
发明
申请号
CN201010228520.X
申请日
2010-07-16
公开(公告)号
CN102338691A
公开(公告)日
2012-02-01
发明(设计)人
樊仲维 孙海江 王家赞
申请人
申请人地址
100192 北京市海淀区西小口路66号东升科技园北领地C区7号楼二层
IPC主分类号
G01M1102
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
公开
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共 50 条
[1]
磁光隔离器消光比测量方法及光学参数测量装置 [P]. 
樊仲维 ;
王家赞 .
中国专利 :CN102466559A ,2012-05-23
[2]
静态消光比测量装置及静态消光比测量方法 [P]. 
樊仲维 ;
孙海江 ;
王家赞 .
中国专利 :CN102338692A ,2012-02-01
[3]
磁光隔离器旋光角度测量方法及光学参数测量装置 [P]. 
樊仲维 ;
王家赞 .
中国专利 :CN102466558A ,2012-05-23
[4]
光学参数测量装置和光学参数测量方法 [P]. 
刘世豪 .
中国专利 :CN120063484A ,2025-05-30
[5]
一种光学参数测量装置 [P]. 
樊仲维 ;
王家赞 .
中国专利 :CN102466560A ,2012-05-23
[6]
一种光学参数测量装置及其测量方法 [P]. 
刘莹莹 ;
武震 ;
廖永俊 ;
李星 ;
马慧君 .
中国专利 :CN107576482B ,2018-01-12
[7]
一种偏振消光棱镜消光比的测量装置及测量方法 [P]. 
石振东 ;
张霖 ;
杨一 ;
任寰 ;
马骅 ;
原泉 ;
马玉荣 ;
陈波 ;
杨晓瑜 ;
柴立群 .
中国专利 :CN107356409A ,2017-11-17
[8]
调制器静态消光比的测量方法、装置及设备 [P]. 
秦林 ;
王旭阳 ;
焦康平 ;
张云龙 .
中国专利 :CN117647378A ,2024-03-05
[9]
光学参数测量方法及装置 [P]. 
梁洪涛 ;
张戎 ;
张厚道 ;
张云 ;
施耀明 .
中国专利 :CN114322762B ,2024-03-29
[10]
光学参数测量方法及装置 [P]. 
梁洪涛 ;
张戎 ;
张厚道 ;
张云 ;
施耀明 .
中国专利 :CN114322762A ,2022-04-12