磁光隔离器消光比测量方法及光学参数测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201010539814.4

申请日：

2010-11-11

公开(公告)号：

CN102466559A

公开(公告)日：

2012-05-23

发明(设计)人：

樊仲维王家赞

申请人：

申请人地址：

100192 北京市海淀区西小口路66号东升科技园北领地C区7号楼二层

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

G01M1104

代理机构：

代理人：

法律状态：

发明专利申请公布后的驳回

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-03-11	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101712193143 IPC(主分类):G01M 11/02 专利申请号:2010105398144 申请公布日:20120523
2012-05-23	公开	公开
2012-08-08	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101306509852 IPC(主分类):G01M 11/02 专利申请号:2010105398144 申请日:20101111

共 50 条

[1]

磁光隔离器旋光角度测量方法及光学参数测量装置 [P].

樊仲维 ;

王家赞 .

中国专利 :CN102466558A ,2012-05-23

[2]

光学参数测量装置及静态消光比的测量方法 [P].

樊仲维 ;

孙海江 ;

王家赞 .

中国专利 :CN102338691A ,2012-02-01

[3]

静态消光比测量装置及静态消光比测量方法 [P].

樊仲维 ;

孙海江 ;

王家赞 .

中国专利 :CN102338692A ,2012-02-01

[4]

光学参数测量装置和光学参数测量方法 [P].

刘世豪 .

中国专利 :CN120063484A ,2025-05-30

[5]

消光比测量系统及消光比测量方法 [P].

朱都 ;

廖伟 .

中国专利 :CN120404068A ,2025-08-01

[6]

测量大口径磁光隔离器隔离比的全光纤装置 [P].

张攀政 ;

李菁辉 ;

张志祥 ;

王利 ;

汪涛 ;

马伟新 .

中国专利 :CN106772818B ,2017-05-31

[7]

光测量装置及光测量方法 [P].

畠堀贵秀 ;

田窪健二 .

日本专利 :CN120693513A ,2025-09-23

[8]

一种偏振消光棱镜消光比的测量装置及测量方法 [P].

石振东 ;

张霖 ;

杨一 ;

任寰 ;

马骅 ;

原泉 ;

马玉荣 ;

陈波 ;

杨晓瑜 ;

柴立群 .

中国专利 :CN107356409A ,2017-11-17

[9]

光测量装置、光测量方法 [P].

峰邑浩行 ;

安斋由美子 .

日本专利 :CN120187998A ,2025-06-20

[10]

光模块发射端的消光比测量系统及测量方法 [P].

范巍 ;

陈气超 .

中国专利 :CN105043721B ,2015-11-11

← 1 2 3 4 5 →