光测量装置及光测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202480012889.7

申请日：

2024-02-19

公开(公告)号：

CN120693513A

公开(公告)日：

2025-09-23

发明(设计)人：

畠堀贵秀田窪健二

申请人：

株式会社岛津制作所

申请人地址：

日本国京都府

IPC主分类号：

G01N21/17

IPC分类号：

A61B10/00

代理机构：

上海立群专利代理事务所(普通合伙) 31291

代理人：

杨楷;毛立群

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-10-14	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/17申请日:20240219
2025-09-23	公开	公开

共 50 条

[1]

光测量装置、光测量方法 [P].

峰邑浩行 ;

安斋由美子 .

日本专利 :CN120187998A ,2025-06-20

[2]

光测量装置及光测量方法 [P].

江浦茂 ;

铃木健吾 ;

池村贤一郎 ;

井口和也 .

中国专利 :CN106461463B ,2017-02-22

[3]

光测量装置和光测量方法 [P].

浦上恒幸 ;

土屋广司 ;

三轮光春 .

中国专利 :CN109557059A ,2019-04-02

[4]

光测量装置和光测量方法 [P].

浦上恒幸 ;

土屋广司 ;

三轮光春 .

中国专利 :CN110678738A ,2020-01-10

[5]

偏振测量装置、偏振测量方法及光配向方法 [P].

张一志 ;

王帆 ;

李玉龙 .

中国专利 :CN110132420B ,2019-08-16

[6]

光脉冲测量装置及测量方法 [P].

罗志伟 ;

刘奕辰 ;

叶恬恬 .

中国专利 :CN110530532A ,2019-12-03

[7]

光测量方法、光测量装置、光测量程序以及存储光测量程序的存储介质 [P].

嶋瀬朗 ;

堀田和宏 .

中国专利 :CN111512169A ,2020-08-07

[8]

光声物性测量装置及测量方法 [P].

高武直弘 ;

小野豪一 ;

片岸诚 ;

土井秀明 ;

白水信弘 .

日本专利 :CN117561442A ,2024-02-13

[9]

基于结构光的深度测量装置、测量方法及拍摄设备 [P].

于亚冰 ;

王志玲 ;

姚若亚 ;

朱华 ;

谭磊 .

中国专利 :CN113625289A ,2021-11-09

[10]

基于结构光的深度测量装置、测量方法及拍摄设备 [P].

于亚冰 ;

王志玲 ;

姚若亚 ;

朱华 ;

谭磊 .

中国专利 :CN113625289B ,2024-08-30

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