光测量装置和光测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811100645.7

申请日：

2018-09-20

公开(公告)号：

CN109557059A

公开(公告)日：

2019-04-02

发明(设计)人：

浦上恒幸土屋广司三轮光春

申请人：

申请人地址：

日本静冈县

IPC主分类号：

G01N2164

IPC分类号：

代理机构：

北京尚诚知识产权代理有限公司 11322

代理人：

杨琦

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-04-02	公开	公开
2020-05-08	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/64 申请日:20180920

共 50 条

[1]

光测量装置和光测量方法 [P].

浦上恒幸 ;

土屋广司 ;

三轮光春 .

中国专利 :CN110678738A ,2020-01-10

[2]

光外差干涉测量装置和光外差干涉测量方法 [P].

加藤尚明 ;

泷口优 ;

田中博 .

日本专利 :CN118215835A ,2024-06-18

[3]

光测量装置及光测量方法 [P].

江浦茂 ;

铃木健吾 ;

池村贤一郎 ;

井口和也 .

中国专利 :CN106461463B ,2017-02-22

[4]

光测量装置、光测量方法 [P].

峰邑浩行 ;

安斋由美子 .

日本专利 :CN120187998A ,2025-06-20

[5]

配光特性测量装置和配光特性测量方法 [P].

江南世志 .

中国专利 :CN103364177B ,2013-10-23

[6]

旋光角测量装置和旋光角测量方法 [P].

松本健志 .

中国专利 :CN1221798C ,2004-05-19

[7]

光测量装置及光测量方法 [P].

畠堀贵秀 ;

田窪健二 .

日本专利 :CN120693513A ,2025-09-23

[8]

光外差干涉测量装置以及光外差干涉测量方法 [P].

加藤尚明 ;

泷口优 ;

田中博 .

日本专利 :CN121219570A ,2025-12-26

[9]

光测量控制程序、光测量系统及光测量方法 [P].

笠原隆 ;

柴山胜己 ;

广瀬真树 ;

川合敏光 ;

大山泰生 ;

藏本有未 .

中国专利 :CN110603430A ,2019-12-20

[10]

生物体光测量装置及使用生物体光测量装置的生物体光测量方法 [P].

舟根司 ;

木口雅史 ;

藤原伦行 ;

加贺干广 ;

高寺毅 .

中国专利 :CN104582588B ,2015-04-29

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