光测量控制程序、光测量系统及光测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201880028870.6

申请日：

2018-04-24

公开(公告)号：

CN110603430A

公开(公告)日：

2019-12-20

发明(设计)人：

笠原隆柴山胜己广瀬真树川合敏光大山泰生藏本有未

申请人：

申请人地址：

日本静冈县

IPC主分类号：

G01J326

IPC分类号：

G02B2600

代理机构：

北京尚诚知识产权代理有限公司 11322

代理人：

杨琦;黄浩

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-12-20	公开	公开
2020-01-14	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01J 3/26 申请日:20180424

共 50 条

[1]

光测量装置及光测量方法 [P].

江浦茂 ;

铃木健吾 ;

池村贤一郎 ;

井口和也 .

中国专利 :CN106461463B ,2017-02-22

[2]

光测量装置和光测量方法 [P].

浦上恒幸 ;

土屋广司 ;

三轮光春 .

中国专利 :CN109557059A ,2019-04-02

[3]

光测量装置和光测量方法 [P].

浦上恒幸 ;

土屋广司 ;

三轮光春 .

中国专利 :CN110678738A ,2020-01-10

[4]

光测量系统以及脑功能光测量方法 [P].

石川亮宏 ;

井上芳浩 ;

山口俊平 ;

宇野晴雄 ;

网田孝司 ;

增田善纪 ;

宇田川晴英 .

中国专利 :CN106456136B ,2017-02-22

[5]

接目光学透镜、光测量系统及光测量方法 [P].

泽田泠 ;

木下卓 ;

久保田慎 ;

栗原俊英 ;

筱岛亚里 ;

古屋学 .

日本专利 :CN117500428A ,2024-02-02

[6]

光测量装置及光测量方法 [P].

畠堀贵秀 ;

田窪健二 .

日本专利 :CN120693513A ,2025-09-23

[7]

光测量装置、光测量方法 [P].

峰邑浩行 ;

安斋由美子 .

日本专利 :CN120187998A ,2025-06-20

[8]

光测量方法、光测量装置、光测量程序以及存储光测量程序的存储介质 [P].

嶋瀬朗 ;

堀田和宏 .

中国专利 :CN111512169A ,2020-08-07

[9]

光外差干涉测量装置以及光外差干涉测量方法 [P].

加藤尚明 ;

泷口优 ;

田中博 .

日本专利 :CN121219570A ,2025-12-26

[10]

光外差干涉测量装置和光外差干涉测量方法 [P].

加藤尚明 ;

泷口优 ;

田中博 .

日本专利 :CN118215835A ,2024-06-18

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