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喷墨位移参数校正方法、校正装置以及校正系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202011597816.9
申请日
:
2020-12-29
公开(公告)号
:
CN114055941B
公开(公告)日
:
2022-02-18
发明(设计)人
:
李伟章
申请人
:
申请人地址
:
510000 广东省广州市广州中新广州知识城凤凰三路17号自编五栋388
IPC主分类号
:
B41J211
IPC分类号
:
B41J29393
B41J209
代理机构
:
华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人
:
杜寒宇
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-02-18
公开
公开
2022-03-08
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):B41J 2/11 申请日:20201229
2022-12-06
授权
授权
共 50 条
[1]
工件定位校正方法、校正装置、校正系统和存储介质
[P].
曾帆
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
比亚迪股份有限公司
比亚迪股份有限公司
曾帆
;
韩先锋
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0
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0
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0
机构:
比亚迪股份有限公司
比亚迪股份有限公司
韩先锋
;
陆颖健
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0
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0
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0
机构:
比亚迪股份有限公司
比亚迪股份有限公司
陆颖健
;
曹阳
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0
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0
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0
机构:
比亚迪股份有限公司
比亚迪股份有限公司
曹阳
.
中国专利
:CN118616924B
,2024-12-10
[2]
工件定位校正方法、校正装置、校正系统和存储介质
[P].
曾帆
论文数:
0
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0
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机构:
比亚迪股份有限公司
比亚迪股份有限公司
曾帆
;
韩先锋
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0
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0
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机构:
比亚迪股份有限公司
比亚迪股份有限公司
韩先锋
;
陆颖健
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0
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0
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机构:
比亚迪股份有限公司
比亚迪股份有限公司
陆颖健
;
曹阳
论文数:
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机构:
比亚迪股份有限公司
比亚迪股份有限公司
曹阳
.
中国专利
:CN118616924A
,2024-09-10
[3]
参数校正方法及校正系统
[P].
梁源
论文数:
0
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梁源
;
贾灵
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贾灵
;
周震宇
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周震宇
;
陈秋煌
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陈秋煌
;
张冲
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张冲
;
孙瑶
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0
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孙瑶
.
中国专利
:CN101252357A
,2008-08-27
[4]
阵列误差校正方法、校正装置、校正系统和存储介质
[P].
吴瑞恒
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机构:
比亚迪半导体股份有限公司
比亚迪半导体股份有限公司
吴瑞恒
;
李振刚
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机构:
比亚迪半导体股份有限公司
比亚迪半导体股份有限公司
李振刚
;
杨云
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机构:
比亚迪半导体股份有限公司
比亚迪半导体股份有限公司
杨云
.
中国专利
:CN119846571A
,2025-04-18
[5]
校正装置、校正系统、校正方法以及记录介质
[P].
田口翔大
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机构:
株式会社理学
株式会社理学
田口翔大
;
太田卓见
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机构:
株式会社理学
株式会社理学
太田卓见
.
日本专利
:CN117336449A
,2024-01-02
[6]
校正系统以及校正方法
[P].
田名网克周
论文数:
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0
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机构:
新东工业株式会社
新东工业株式会社
田名网克周
;
大泽敦司
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0
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0
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机构:
新东工业株式会社
新东工业株式会社
大泽敦司
;
小林岳久见
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引用数:
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机构:
新东工业株式会社
新东工业株式会社
小林岳久见
.
日本专利
:CN117795302A
,2024-03-29
[7]
校正系统、校正装置和校正方法
[P].
王浩
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
杭州美盛红外光电技术有限公司
杭州美盛红外光电技术有限公司
王浩
.
中国专利
:CN114414070B
,2024-04-19
[8]
校正方法、校正装置及校正系统
[P].
简宪军
论文数:
0
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0
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0
简宪军
.
中国专利
:CN113342067A
,2021-09-03
[9]
校正装置、校正系统及校正方法
[P].
张炎珍
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张炎珍
;
向江风
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向江风
.
中国专利
:CN112742675B
,2021-05-04
[10]
校正系统、校正装置和校正方法
[P].
王浩
论文数:
0
引用数:
0
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0
王浩
.
中国专利
:CN114414070A
,2022-04-29
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