阵列误差校正方法、校正装置、校正系统和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411151697.2

申请日：

2024-08-20

公开(公告)号：

CN119846571A

公开(公告)日：

2025-04-18

发明(设计)人：

吴瑞恒李振刚杨云

申请人：

比亚迪半导体股份有限公司

申请人地址：

518119 广东省深圳市大鹏新区葵涌街道延安路1号

IPC主分类号：

G01S7/40

IPC分类号：

G06F17/16

代理机构：

北京知帆远景知识产权代理有限公司 11890

代理人：

吴文婧

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-05-23	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01S 7/40申请日:20240820
2025-04-18	公开	公开

共 50 条

[1]

工件定位校正方法、校正装置、校正系统和存储介质 [P].

曾帆 ;

韩先锋 ;

陆颖健 ;

曹阳 .

中国专利 :CN118616924B ,2024-12-10

[2]

工件定位校正方法、校正装置、校正系统和存储介质 [P].

曾帆 ;

韩先锋 ;

陆颖健 ;

曹阳 .

中国专利 :CN118616924A ,2024-09-10

[3]

校正方法、校正装置、校正系统及存储介质 [P].

张巧淞 .

中国专利 :CN117745601A ,2024-03-22

[4]

校正系统、校正装置和校正方法 [P].

王浩 .

中国专利 :CN114414070B ,2024-04-19

[5]

校正系统、校正装置和校正方法 [P].

王浩 .

中国专利 :CN114414070A ,2022-04-29

[6]

校正方法、校正系统和计算机可读存储介质 [P].

杨小威 .

中国专利 :CN111627074A ,2020-09-04

[7]

喷墨位移参数校正方法、校正装置以及校正系统 [P].

李伟章 .

中国专利 :CN114055941B ,2022-02-18

[8]

校正方法、校正系统和计算机可读存储介质 [P].

杨小威 .

中国专利 :CN111627074B ,2024-05-14

[9]

显示模组的显示校正方法、显示校正装置和显示校正系统 [P].

周意保 ;

王小伟 ;

钱勇军 .

中国专利 :CN108053803A ,2018-05-18

[10]

校正系统和校正方法 [P].

邱国扬 ;

陈圣哲 ;

姜如芸 ;

刘怡珍 .

中国专利 :CN111836088A ,2020-10-27

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