一种光学元件光学表面面形扫描用位移台

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专利类型
实用新型
申请号
CN202120061522.8
申请日
2021-01-11
公开(公告)号
CN213985023U
公开(公告)日
2021-08-17
发明(设计)人
杨向通 冯鹰
申请人
申请人地址
214213 江苏省无锡市宜兴经济技术开发区庆源大道88号景苑128创新产业园H1栋
IPC主分类号
G01B2120
IPC分类号
G01M1102
代理机构
代理人
法律状态
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国省代码
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共 50 条
[1]
一种光学元件光学表面面形扫描用位移台 [P]. 
王曰明 ;
李明富 ;
梁邦远 ;
王世雷 ;
孙佳卓 .
中国专利 :CN210268551U ,2020-04-07
[2]
一种长程光学表面面形检测系统 [P]. 
彭川黔 ;
何玉梅 ;
王劼 .
中国专利 :CN205505989U ,2016-08-24
[3]
一种长程光学表面面形检测仪 [P]. 
彭川黔 ;
何玉梅 ;
王劼 .
中国专利 :CN205505988U ,2016-08-24
[4]
一种非接触光学元件表面面形测量装置 [P]. 
李潇潇 ;
张志恒 ;
张效宇 ;
曹杰君 ;
曹兆楼 ;
咸冯林 .
中国专利 :CN209623618U ,2019-11-12
[5]
一种长程光学表面面形检测系统 [P]. 
彭川黔 ;
何玉梅 ;
王劼 .
中国专利 :CN105674913B ,2016-06-15
[6]
一种光学元件双表面面形测量方法 [P]. 
刘磊 ;
张效栋 ;
李泽骁 ;
王冬雪 ;
李卓桐 ;
张宏舜 .
中国专利 :CN117146736B ,2024-08-23
[7]
长程光学表面面形检测装置及检测方法 [P]. 
彭川黔 .
中国专利 :CN110926367A ,2020-03-27
[8]
一种长程光学表面面形检测仪 [P]. 
彭川黔 ;
何玉梅 ;
王劼 .
中国专利 :CN105758333A ,2016-07-13
[9]
一种高精度长程光学表面面形检测仪 [P]. 
李明 ;
杨福桂 ;
王秋实 ;
盛伟繁 ;
刘鹏 .
中国专利 :CN104019762B ,2014-09-03
[10]
一种非接触光学元件表面面形测量装置及方法 [P]. 
李潇潇 ;
张志恒 ;
张效宇 ;
曹杰君 ;
曹兆楼 ;
咸冯林 .
中国专利 :CN109974583A ,2019-07-05