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一种光学元件光学表面面形扫描用位移台
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202120061522.8
申请日
:
2021-01-11
公开(公告)号
:
CN213985023U
公开(公告)日
:
2021-08-17
发明(设计)人
:
杨向通
冯鹰
申请人
:
申请人地址
:
214213 江苏省无锡市宜兴经济技术开发区庆源大道88号景苑128创新产业园H1栋
IPC主分类号
:
G01B2120
IPC分类号
:
G01M1102
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-08-17
授权
授权
共 50 条
[1]
一种光学元件光学表面面形扫描用位移台
[P].
王曰明
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王曰明
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李明富
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李明富
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梁邦远
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梁邦远
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王世雷
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王世雷
;
孙佳卓
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孙佳卓
.
中国专利
:CN210268551U
,2020-04-07
[2]
一种长程光学表面面形检测系统
[P].
彭川黔
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彭川黔
;
何玉梅
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何玉梅
;
王劼
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王劼
.
中国专利
:CN205505989U
,2016-08-24
[3]
一种长程光学表面面形检测仪
[P].
彭川黔
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彭川黔
;
何玉梅
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何玉梅
;
王劼
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王劼
.
中国专利
:CN205505988U
,2016-08-24
[4]
一种非接触光学元件表面面形测量装置
[P].
李潇潇
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李潇潇
;
张志恒
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张志恒
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张效宇
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张效宇
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曹杰君
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曹杰君
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曹兆楼
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曹兆楼
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咸冯林
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咸冯林
.
中国专利
:CN209623618U
,2019-11-12
[5]
一种长程光学表面面形检测系统
[P].
彭川黔
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彭川黔
;
何玉梅
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何玉梅
;
王劼
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王劼
.
中国专利
:CN105674913B
,2016-06-15
[6]
一种光学元件双表面面形测量方法
[P].
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机构:
刘磊
;
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张效栋
;
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李泽骁
;
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王冬雪
;
李卓桐
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天津大学
天津大学
李卓桐
;
张宏舜
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机构:
天津大学
天津大学
张宏舜
.
中国专利
:CN117146736B
,2024-08-23
[7]
长程光学表面面形检测装置及检测方法
[P].
彭川黔
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彭川黔
.
中国专利
:CN110926367A
,2020-03-27
[8]
一种长程光学表面面形检测仪
[P].
彭川黔
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彭川黔
;
何玉梅
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何玉梅
;
王劼
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王劼
.
中国专利
:CN105758333A
,2016-07-13
[9]
一种高精度长程光学表面面形检测仪
[P].
李明
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李明
;
杨福桂
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杨福桂
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王秋实
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王秋实
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盛伟繁
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盛伟繁
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刘鹏
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刘鹏
.
中国专利
:CN104019762B
,2014-09-03
[10]
一种非接触光学元件表面面形测量装置及方法
[P].
李潇潇
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李潇潇
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张志恒
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张志恒
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张效宇
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张效宇
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曹杰君
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曹杰君
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曹兆楼
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曹兆楼
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咸冯林
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咸冯林
.
中国专利
:CN109974583A
,2019-07-05
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