一种长程光学表面面形检测系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610101562.4

申请日：

2016-02-24

公开(公告)号：

CN105674913B

公开(公告)日：

2016-06-15

发明(设计)人：

彭川黔何玉梅王劼

申请人：

申请人地址：

201800 上海市嘉定区嘉罗公路2019号

IPC主分类号：

G01B1124

IPC分类号：

代理机构：

上海智信专利代理有限公司 31002

代理人：

邓琪;余中燕

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-07-13	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101669693057 IPC(主分类):G01B 11/24 专利申请号:2016101015624 申请日:20160224
2016-06-15	公开	公开
2018-03-30	授权	授权

共 50 条

[1]

一种长程光学表面面形检测系统 [P].

彭川黔 ;

何玉梅 ;

王劼 .

中国专利 :CN205505989U ,2016-08-24

[2]

一种长程光学表面面形检测仪 [P].

彭川黔 ;

何玉梅 ;

王劼 .

中国专利 :CN105758333A ,2016-07-13

[3]

一种长程光学表面面形检测仪 [P].

彭川黔 ;

何玉梅 ;

王劼 .

中国专利 :CN205505988U ,2016-08-24

[4]

长程光学表面面形检测装置及检测方法 [P].

彭川黔 .

中国专利 :CN110926367A ,2020-03-27

[5]

一种高精度长程光学表面面形检测仪 [P].

李明 ;

杨福桂 ;

王秋实 ;

盛伟繁 ;

刘鹏 .

中国专利 :CN104019762B ,2014-09-03

[6]

一种长程面形测量仪 [P].

彭川黔 ;

何玉梅 ;

王劼 .

中国专利 :CN205642307U ,2016-10-12

[7]

一种长程面形测量仪 [P].

彭川黔 ;

何玉梅 ;

王劼 .

中国专利 :CN105737758B ,2016-07-06

[8]

一种光学元件光学表面面形扫描用位移台 [P].

杨向通 ;

冯鹰 .

中国专利 :CN213985023U ,2021-08-17

[9]

一种光学元件光学表面面形扫描用位移台 [P].

王曰明 ;

李明富 ;

梁邦远 ;

王世雷 ;

孙佳卓 .

中国专利 :CN210268551U ,2020-04-07

[10]

一种高精度长程面形检测系统及检测方法 [P].

杨福桂 ;

李明 ;

刘鹏 ;

盛伟繁 .

中国专利 :CN103292728A ,2013-09-11

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