一种高精度长程面形检测系统及检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310182031.9

申请日：

2013-05-16

公开(公告)号：

CN103292728A

公开(公告)日：

2013-09-11

发明(设计)人：

杨福桂李明刘鹏盛伟繁

申请人：

申请人地址：

100049 北京市石景山区玉泉路19号(乙)

IPC主分类号：

G01B1124

IPC分类号：

代理机构：

北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200

代理人：

余长江

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-10-16	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101529132941 IPC(主分类):G01B 11/24 专利申请号:2013101820319 申请日:20130516
2016-01-20	授权	授权
2013-09-11	公开	公开

共 50 条

[1]

一种高精度高空间分辨长程面形检测系统 [P].

杨福桂 ;

李明 ;

盛伟繁 ;

刘鹏 .

中国专利 :CN103278106B ,2013-09-04

[2]

一种高空间分辨长程面形检测装置及检测方法 [P].

杨福桂 ;

李明 .

中国专利 :CN104567719A ,2015-04-29

[3]

长程面形检测仪及检测方法 [P].

彭川黔 ;

龚恒翔 .

中国专利 :CN111024000A ,2020-04-17

[4]

一种二维长程面形检测装置及检测方法 [P].

罗红心 ;

张翼飞 ;

樊亦辰 ;

金利民 ;

李中亮 ;

王劼 .

中国专利 :CN106840030B ,2017-06-13

[5]

一种高精度长程光学表面面形检测仪 [P].

李明 ;

杨福桂 ;

王秋实 ;

盛伟繁 ;

刘鹏 .

中国专利 :CN104019762B ,2014-09-03

[6]

长程光学表面面形检测装置及检测方法 [P].

彭川黔 .

中国专利 :CN110926367A ,2020-03-27

[7]

面形检测系统及检测方法 [P].

沃林 ;

沃家 .

中国专利 :CN114577111A ,2022-06-03

[8]

一种面形检测装置及面形检测方法 [P].

张学军 ;

胡海翔 ;

陶小平 .

中国专利 :CN110514142B ,2019-11-29

[9]

一种高精度施密特校正板的面形检测系统及方法 [P].

黎发志 ;

杜维佳 ;

李民益 ;

李文宗 ;

陈彧龙 ;

刘海东 ;

周子元 .

中国专利 :CN113739719B ,2021-12-03

[10]

一种长程光学表面面形检测系统 [P].

彭川黔 ;

何玉梅 ;

王劼 .

中国专利 :CN205505989U ,2016-08-24

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