高可靠性SiC沟槽型功率半导体器件及制备方法

被引:0
申请号
CN202210323538.0
申请日
2022-03-30
公开(公告)号
CN114695556A
公开(公告)日
2022-07-01
发明(设计)人
杨飞 吴凯 张广银 徐真逸 任雨
申请人
申请人地址
210000 江苏省南京市江宁区苏源大道19号九龙湖国际企业总部园A2座(江宁开发区)
IPC主分类号
H01L2978
IPC分类号
H01L29423 H01L21336 H01L29739 H01L21331
代理机构
无锡华源专利商标事务所(普通合伙) 32228
代理人
过顾佳
法律状态
专利申请权、专利权的转移
国省代码
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共 50 条
[1]
高可靠性耗尽型功率半导体器件 [P]. 
叶俊 ;
张邵华 .
中国专利 :CN203013735U ,2013-06-19
[2]
高可靠性沟槽型半导体MOS器件 [P]. 
黄彦智 ;
陆佳顺 ;
杨洁雯 .
中国专利 :CN208045511U ,2018-11-02
[3]
高可靠性耗尽型功率半导体器件及其制造方法 [P]. 
叶俊 ;
张邵华 .
中国专利 :CN103022138B ,2013-04-03
[4]
高压沟槽型功率半导体器件及制备方法 [P]. 
杨飞 ;
白玉明 ;
吴凯 ;
朱阳军 .
中国专利 :CN110429129A ,2019-11-08
[5]
低成本高可靠性的功率半导体器件及其制备方法 [P]. 
杨飞 ;
白玉明 ;
吴凯 ;
朱阳军 .
中国专利 :CN110444583A ,2019-11-12
[6]
高可靠性半导体器件 [P]. 
唐兴军 ;
王亚 .
中国专利 :CN211957635U ,2020-11-17
[7]
高可靠性半导体器件 [P]. 
张雄杰 ;
何洪运 ;
程琳 .
中国专利 :CN106409804A ,2017-02-15
[8]
高可靠性功率半导体器件及其制作方法 [P]. 
朱袁正 ;
叶鹏 ;
周锦程 ;
杨卓 .
中国专利 :CN113745339B ,2021-12-03
[9]
一种高可靠性半导体功率器件及制备方法 [P]. 
唐呈前 ;
范玮 ;
苏毅 ;
常虹 .
中国专利 :CN115084274A ,2022-09-20
[10]
高可靠性整流半导体器件 [P]. 
李飞帆 ;
张屹 .
中国专利 :CN207199600U ,2018-04-06