一种金属封装大功率电路元器件的老炼测试插座

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201320502568.4

申请日：

2013-08-16

公开(公告)号：

CN203396794U

公开(公告)日：

2014-01-15

发明(设计)人：

李东伟

申请人：

申请人地址：

313000 浙江省湖州市长兴县槐坎电子工业园

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

代理机构：

北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350

代理人：

汤东凤

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-01-15	授权	授权
2019-08-02	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 1/04 申请日:20130816 授权公告日:20140115 终止日期:20180816

共 50 条

[1]

金属封装老炼测试插座 [P].

李东伟 ;

杨力 .

中国专利 :CN204439665U ,2015-07-01

[2]

9线金属封装大功率电路元器件老化测试插座 [P].

曹宏国 .

中国专利 :CN201112805Y ,2008-09-10

[3]

带绝缘边框封装元器件的老炼测试插座 [P].

李东伟 .

中国专利 :CN203398437U ,2014-01-15

[4]

一种金属封装红外LED元器件 [P].

黄桂林 ;

石卫民 .

中国专利 :CN206592796U ,2017-10-27

[5]

一种活动定位老炼测试插座 [P].

唐艳霞 .

中国专利 :CN209231372U ,2019-08-09

[6]

6线大功率插入式元器件老化测试插座 [P].

曹宏国 .

中国专利 :CN201112804Y ,2008-09-10

[7]

一种大功率器件老炼保护装置 [P].

张凡 ;

刘兆博 ;

左洪涛 ;

宁凯 .

中国专利 :CN203965467U ,2014-11-26

[8]

一种大功率LED元器件 [P].

黄桂林 ;

石卫民 .

中国专利 :CN206595286U ,2017-10-27

[9]

一种电子元器件老炼测试夹具 [P].

章文炳 .

中国专利 :CN211528572U ,2020-09-18

[10]

一种电子元器件老炼测试夹具 [P].

朱建军 .

中国专利 :CN220709228U ,2024-04-02

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