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球面光学元件光谱反射率测量装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN200620155319.2
申请日
:
2006-12-27
公开(公告)号
:
CN201016840Y
公开(公告)日
:
2008-02-06
发明(设计)人
:
姚建政
钟汉民
罗新华
申请人
:
申请人地址
:
511450广东省广州市番禺区石基镇市莲路东华花园44座1梯503房
IPC主分类号
:
G01M1100
IPC分类号
:
G01M1102
G01J302
G01J310
G01J328
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权)
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2009-09-09
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权)
其他有关事项(避免重复授权放弃专利权) 放弃生效日:2009826
2008-02-06
授权
授权
共 50 条
[1]
球面光学元件光谱反射率测量装置及方法
[P].
姚建政
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姚建政
;
钟汉民
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钟汉民
;
罗新华
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罗新华
.
中国专利
:CN1995944A
,2007-07-11
[2]
一种球面光学元件光谱反射率测量装置
[P].
侯睿媛
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侯睿媛
;
陆寅
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陆寅
;
张帅楠
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张帅楠
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戴晨
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戴晨
;
权琨琪
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权琨琪
;
刘仁明
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刘仁明
;
陈贵宾
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陈贵宾
;
卜阳
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卜阳
.
中国专利
:CN209131942U
,2019-07-19
[3]
光学元件多点透射反射率光谱测量装置
[P].
宋光均
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宋光均
;
罗海涛
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罗海涛
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蒋之辉
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蒋之辉
.
中国专利
:CN214374295U
,2021-10-08
[4]
光谱反射率测量装置
[P].
李民赞
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李民赞
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曹卫星
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曹卫星
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崔笛
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崔笛
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朱艳
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朱艳
;
张喜杰
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张喜杰
;
汪懋华
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汪懋华
;
刘刚
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刘刚
.
中国专利
:CN101144778B
,2008-03-19
[5]
曲面光学薄膜元件反射率测量方法
[P].
王银河
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王银河
;
宋光辉
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宋光辉
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姚春龙
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姚春龙
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刘海涛
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刘海涛
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李明华
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李明华
;
李野
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李野
.
中国专利
:CN110646169A
,2020-01-03
[6]
光学元件反射率测量仪
[P].
侯睿媛
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侯睿媛
;
陆寅
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陆寅
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张帅楠
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张帅楠
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戴晨
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戴晨
;
权琨琪
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权琨琪
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刘仁明
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刘仁明
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陈贵宾
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陈贵宾
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卜阳
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卜阳
.
中国专利
:CN209167118U
,2019-07-26
[7]
大尺寸光学元件透射率和反射率测量装置
[P].
胡永明
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胡永明
;
陈哲
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陈哲
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常胜利
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常胜利
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孟洲
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孟洲
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韩泽
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韩泽
.
中国专利
:CN2338738Y
,1999-09-15
[8]
一种用于光学元件反射率/透过率测量的综合测量装置
[P].
李斌成
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李斌成
;
崔浩
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崔浩
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王静
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王静
.
中国专利
:CN106441817A
,2017-02-22
[9]
光谱反射率测量仪
[P].
宋光均
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宋光均
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郑祥利
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郑祥利
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饶福原
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饶福原
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夏豪
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夏豪
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初天伟
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初天伟
.
中国专利
:CN304321200S
,2017-10-20
[10]
一种球面光学元件表面缺陷测量装置和测量方法
[P].
倪开灶
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倪开灶
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刘世杰
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刘世杰
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邵建达
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邵建达
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李英甲
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李英甲
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潘靖宇
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潘靖宇
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中国专利
:CN112229854A
,2021-01-15
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