曲面光学薄膜元件反射率测量方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201911028735.4
申请日
2019-10-28
公开(公告)号
CN110646169A
公开(公告)日
2020-01-03
发明(设计)人
王银河 宋光辉 姚春龙 刘海涛 李明华 李野
申请人
申请人地址
110043 辽宁省沈阳市大东区北海街242号
IPC主分类号
G01M1102
IPC分类号
G01N2155
代理机构
沈阳亚泰专利商标代理有限公司 21107
代理人
郭元艺
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种基于光学干涉的光学薄膜反射率测量系统及测量方法 [P]. 
李成 ;
万震 ;
刘洋 .
中国专利 :CN114813048B ,2025-10-14
[2]
一种基于光学干涉的光学薄膜反射率测量系统及测量方法 [P]. 
李成 ;
万震 ;
刘洋 .
中国专利 :CN114813048A ,2022-07-29
[3]
光学元件高反射率测量系统和测量方法 [P]. 
邵建达 ;
刘世杰 ;
王圣浩 .
中国专利 :CN109100330A ,2018-12-28
[4]
一种高反射率光学薄膜制备方法及高反射率光学薄膜 [P]. 
郑亮亮 ;
汤文成 ;
陈名扬 ;
何悦祺 ;
王利新 .
中国专利 :CN120056405B ,2025-07-25
[5]
一种高反射率光学薄膜制备方法及高反射率光学薄膜 [P]. 
郑亮亮 ;
汤文成 ;
陈名扬 ;
何悦祺 ;
王利新 .
中国专利 :CN120056405A ,2025-05-30
[6]
球面光学元件光谱反射率测量装置 [P]. 
姚建政 ;
钟汉民 ;
罗新华 .
中国专利 :CN201016840Y ,2008-02-06
[7]
反射镜反射率的测量方法 [P]. 
许洪刚 ;
马洪涛 ;
韩冰 ;
金辉 .
中国专利 :CN112834462A ,2021-05-25
[8]
一种高精度光学薄膜透射率或反射率测量方法及装置 [P]. 
谭中奇 ;
全豫川 .
中国专利 :CN113008833A ,2021-06-22
[9]
固定角度光学薄膜反射率测试装置 [P]. 
王银河 ;
阴晓俊 ;
姚春龙 ;
朱德金 ;
宋光辉 ;
战俊生 .
中国专利 :CN202351019U ,2012-07-25
[10]
一种低反射率光学薄膜 [P]. 
朱延军 .
中国专利 :CN207457530U ,2018-06-05