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曲面光学薄膜元件反射率测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201911028735.4
申请日
:
2019-10-28
公开(公告)号
:
CN110646169A
公开(公告)日
:
2020-01-03
发明(设计)人
:
王银河
宋光辉
姚春龙
刘海涛
李明华
李野
申请人
:
申请人地址
:
110043 辽宁省沈阳市大东区北海街242号
IPC主分类号
:
G01M1102
IPC分类号
:
G01N2155
代理机构
:
沈阳亚泰专利商标代理有限公司 21107
代理人
:
郭元艺
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-01-03
公开
公开
2020-02-04
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20191028
2022-03-08
授权
授权
共 50 条
[1]
一种基于光学干涉的光学薄膜反射率测量系统及测量方法
[P].
论文数:
引用数:
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机构:
李成
;
论文数:
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机构:
万震
;
论文数:
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机构:
刘洋
.
中国专利
:CN114813048B
,2025-10-14
[2]
一种基于光学干涉的光学薄膜反射率测量系统及测量方法
[P].
李成
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李成
;
万震
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万震
;
刘洋
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刘洋
.
中国专利
:CN114813048A
,2022-07-29
[3]
光学元件高反射率测量系统和测量方法
[P].
邵建达
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邵建达
;
刘世杰
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刘世杰
;
王圣浩
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王圣浩
.
中国专利
:CN109100330A
,2018-12-28
[4]
一种高反射率光学薄膜制备方法及高反射率光学薄膜
[P].
郑亮亮
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机构:
畅的新材料科技(上海)有限公司
畅的新材料科技(上海)有限公司
郑亮亮
;
汤文成
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机构:
畅的新材料科技(上海)有限公司
畅的新材料科技(上海)有限公司
汤文成
;
陈名扬
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机构:
畅的新材料科技(上海)有限公司
畅的新材料科技(上海)有限公司
陈名扬
;
何悦祺
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机构:
畅的新材料科技(上海)有限公司
畅的新材料科技(上海)有限公司
何悦祺
;
王利新
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机构:
畅的新材料科技(上海)有限公司
畅的新材料科技(上海)有限公司
王利新
.
中国专利
:CN120056405B
,2025-07-25
[5]
一种高反射率光学薄膜制备方法及高反射率光学薄膜
[P].
郑亮亮
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机构:
畅的新材料科技(上海)有限公司
畅的新材料科技(上海)有限公司
郑亮亮
;
汤文成
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机构:
畅的新材料科技(上海)有限公司
畅的新材料科技(上海)有限公司
汤文成
;
陈名扬
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畅的新材料科技(上海)有限公司
畅的新材料科技(上海)有限公司
陈名扬
;
何悦祺
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畅的新材料科技(上海)有限公司
畅的新材料科技(上海)有限公司
何悦祺
;
王利新
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机构:
畅的新材料科技(上海)有限公司
畅的新材料科技(上海)有限公司
王利新
.
中国专利
:CN120056405A
,2025-05-30
[6]
球面光学元件光谱反射率测量装置
[P].
姚建政
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姚建政
;
钟汉民
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钟汉民
;
罗新华
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罗新华
.
中国专利
:CN201016840Y
,2008-02-06
[7]
反射镜反射率的测量方法
[P].
许洪刚
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许洪刚
;
马洪涛
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马洪涛
;
韩冰
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韩冰
;
金辉
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0
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金辉
.
中国专利
:CN112834462A
,2021-05-25
[8]
一种高精度光学薄膜透射率或反射率测量方法及装置
[P].
谭中奇
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谭中奇
;
全豫川
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0
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0
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0
全豫川
.
中国专利
:CN113008833A
,2021-06-22
[9]
固定角度光学薄膜反射率测试装置
[P].
王银河
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王银河
;
阴晓俊
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阴晓俊
;
姚春龙
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姚春龙
;
朱德金
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朱德金
;
宋光辉
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宋光辉
;
战俊生
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0
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0
战俊生
.
中国专利
:CN202351019U
,2012-07-25
[10]
一种低反射率光学薄膜
[P].
朱延军
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朱延军
.
中国专利
:CN207457530U
,2018-06-05
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