固定角度光学薄膜反射率测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201120463809.X

申请日：

2011-11-21

公开(公告)号：

CN202351019U

公开(公告)日：

2012-07-25

发明(设计)人：

王银河阴晓俊姚春龙朱德金宋光辉战俊生

申请人：

申请人地址：

110043 辽宁省沈阳市大东区北海街242号

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

代理机构：

沈阳亚泰专利商标代理有限公司 21107

代理人：

郭元艺

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-12-07	专利权的终止	专利权有效期届满 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20111121 授权公告日:20120725
2015-04-15	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101713611867 IPC(主分类):G01M 11/02 专利号:ZL201120463809X 变更事项:专利权人变更前:沈阳仪表科学研究院变更后:沈阳仪表科学研究院有限公司变更事项:地址变更前:110043 辽宁省沈阳市大东区北海街242号变更后:110043 辽宁省沈阳市大东区北海街242号
2012-07-25	授权	授权

共 50 条

[1]

一种固定角度光学薄膜反射率测试装置 [P].

罗娟 .

中国专利 :CN212674770U ,2021-03-09

[2]

一种固定角度光学薄膜反射率测试装置 [P].

王亚博 ;

刘国喜 ;

孙琪 ;

王相义 ;

芦淑华 .

中国专利 :CN218350102U ,2023-01-20

[3]

一种高反射率光学薄膜制备方法及高反射率光学薄膜 [P].

郑亮亮 ;

汤文成 ;

陈名扬 ;

何悦祺 ;

王利新 .

中国专利 :CN120056405B ,2025-07-25

[4]

一种高反射率光学薄膜制备方法及高反射率光学薄膜 [P].

郑亮亮 ;

汤文成 ;

陈名扬 ;

何悦祺 ;

王利新 .

中国专利 :CN120056405A ,2025-05-30

[5]

一种低反射率光学薄膜 [P].

朱延军 .

中国专利 :CN207457530U ,2018-06-05

[6]

曲面光学薄膜元件反射率测量方法 [P].

王银河 ;

宋光辉 ;

姚春龙 ;

刘海涛 ;

李明华 ;

李野 .

中国专利 :CN110646169A ,2020-01-03

[7]

绝对法反射率测试装置 [P].

吴洪池 .

中国专利 :CN2723987Y ,2005-09-07

[8]

一种大板ITO薄膜反射率测试装置 [P].

刘链谋 ;

何秀凯 ;

陈伟龙 .

中国专利 :CN222353785U ,2025-01-14

[9]

一种光学薄膜透光测试装置 [P].

周洪钧 .

中国专利 :CN215598986U ,2022-01-21

[10]

一种对蓝光具有高反射率的光学薄膜 [P].

任永安 ;

韩毅 ;

魏东 .

中国专利 :CN205450327U ,2016-08-10

← 1 2 3 4 5 →