一种高反射率光学薄膜制备方法及高反射率光学薄膜

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510518753.X

申请日：

2025-04-24

公开(公告)号：

CN120056405A

公开(公告)日：

2025-05-30

发明(设计)人：

郑亮亮汤文成陈名扬何悦祺王利新

申请人：

畅的新材料科技（上海）有限公司

申请人地址：

200000 上海市宝山区沪太路8419号17幢

IPC主分类号：

B29C48/08

IPC分类号：

B29C48/92 G02B5/08 C08J5/18 C08J3/28 C08L33/12 C08L69/00 C08L25/06 C08L79/08 C08L27/18 C08L81/06 B29L11/00

代理机构：

上海申意诚专利代理有限公司 3100601

代理人：

王乾

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

上海市市辖区

引用

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共 50 条

[1]

一种高反射率光学薄膜制备方法及高反射率光学薄膜 [P].

郑亮亮 ;

汤文成 ;

陈名扬 ;

何悦祺 ;

王利新 .

中国专利 :CN120056405B ,2025-07-25

[2]

一种低反射率光学薄膜 [P].

朱延军 .

中国专利 :CN207457530U ,2018-06-05

[3]

一种对蓝光具有高反射率的光学薄膜 [P].

任永安 ;

韩毅 ;

魏东 .

中国专利 :CN205450327U ,2016-08-10

[4]

固定角度光学薄膜反射率测试装置 [P].

王银河 ;

阴晓俊 ;

姚春龙 ;

朱德金 ;

宋光辉 ;

战俊生 .

中国专利 :CN202351019U ,2012-07-25

[5]

曲面光学薄膜元件反射率测量方法 [P].

王银河 ;

宋光辉 ;

姚春龙 ;

刘海涛 ;

李明华 ;

李野 .

中国专利 :CN110646169A ,2020-01-03

[6]

一种固定角度光学薄膜反射率测试装置 [P].

罗娟 .

中国专利 :CN212674770U ,2021-03-09

[7]

一种固定角度光学薄膜反射率测试装置 [P].

王亚博 ;

刘国喜 ;

孙琪 ;

王相义 ;

芦淑华 .

中国专利 :CN218350102U ,2023-01-20

[8]

一种超低反射率的光学薄膜设计与制造方法 [P].

李仪芳 ;

何影记 .

中国专利 :CN110018533A ,2019-07-16

[9]

用于测试薄膜反射率的装置及薄膜反射率的测试方法 [P].

顾跃凤 .

中国专利 :CN112964456A ,2021-06-15

[10]

一种基于光学干涉的光学薄膜反射率测量系统及测量方法 [P].

李成 ;

万震 ;

刘洋 .

中国专利 :CN114813048B ,2025-10-14

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法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-17	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):B29C 48/08申请日:20250424
2025-07-25	授权	授权
2025-05-30	公开	公开