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一种固定角度光学薄膜反射率测试装置
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202021281779.6
申请日
:
2020-07-02
公开(公告)号
:
CN212674770U
公开(公告)日
:
2021-03-09
发明(设计)人
:
罗娟
申请人
:
申请人地址
:
210000 江苏省南京市六合区马鞍街道黄岗村祥和苑417号
IPC主分类号
:
G01N2147
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
固定角度光学薄膜反射率测试装置
[P].
王银河
论文数:
0
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王银河
;
阴晓俊
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阴晓俊
;
姚春龙
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姚春龙
;
朱德金
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朱德金
;
宋光辉
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宋光辉
;
战俊生
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战俊生
.
中国专利
:CN202351019U
,2012-07-25
[2]
一种固定角度光学薄膜反射率测试装置
[P].
王亚博
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王亚博
;
刘国喜
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刘国喜
;
孙琪
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孙琪
;
王相义
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王相义
;
芦淑华
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芦淑华
.
中国专利
:CN218350102U
,2023-01-20
[3]
一种低反射率光学薄膜
[P].
朱延军
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0
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朱延军
.
中国专利
:CN207457530U
,2018-06-05
[4]
一种高反射率光学薄膜制备方法及高反射率光学薄膜
[P].
郑亮亮
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机构:
畅的新材料科技(上海)有限公司
畅的新材料科技(上海)有限公司
郑亮亮
;
汤文成
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机构:
畅的新材料科技(上海)有限公司
畅的新材料科技(上海)有限公司
汤文成
;
陈名扬
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机构:
畅的新材料科技(上海)有限公司
畅的新材料科技(上海)有限公司
陈名扬
;
何悦祺
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机构:
畅的新材料科技(上海)有限公司
畅的新材料科技(上海)有限公司
何悦祺
;
王利新
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机构:
畅的新材料科技(上海)有限公司
畅的新材料科技(上海)有限公司
王利新
.
中国专利
:CN120056405B
,2025-07-25
[5]
一种高反射率光学薄膜制备方法及高反射率光学薄膜
[P].
郑亮亮
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机构:
畅的新材料科技(上海)有限公司
畅的新材料科技(上海)有限公司
郑亮亮
;
汤文成
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机构:
畅的新材料科技(上海)有限公司
畅的新材料科技(上海)有限公司
汤文成
;
陈名扬
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畅的新材料科技(上海)有限公司
畅的新材料科技(上海)有限公司
陈名扬
;
何悦祺
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机构:
畅的新材料科技(上海)有限公司
畅的新材料科技(上海)有限公司
何悦祺
;
王利新
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机构:
畅的新材料科技(上海)有限公司
畅的新材料科技(上海)有限公司
王利新
.
中国专利
:CN120056405A
,2025-05-30
[6]
一种大板ITO薄膜反射率测试装置
[P].
刘链谋
论文数:
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机构:
信利光电股份有限公司
信利光电股份有限公司
刘链谋
;
何秀凯
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机构:
信利光电股份有限公司
信利光电股份有限公司
何秀凯
;
陈伟龙
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机构:
信利光电股份有限公司
信利光电股份有限公司
陈伟龙
.
中国专利
:CN222353785U
,2025-01-14
[7]
一种光学薄膜透光测试装置
[P].
周洪钧
论文数:
0
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0
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0
周洪钧
.
中国专利
:CN215598986U
,2022-01-21
[8]
一种光学薄膜测试装置
[P].
熊磊
论文数:
0
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0
熊磊
.
中国专利
:CN102818772A
,2012-12-12
[9]
一种对蓝光具有高反射率的光学薄膜
[P].
任永安
论文数:
0
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任永安
;
韩毅
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0
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0
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韩毅
;
魏东
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0
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魏东
.
中国专利
:CN205450327U
,2016-08-10
[10]
绝对法反射率测试装置
[P].
吴洪池
论文数:
0
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0
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0
吴洪池
.
中国专利
:CN2723987Y
,2005-09-07
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