光学元件高反射率测量系统和测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810972476.X

申请日：

2018-08-24

公开(公告)号：

CN109100330A

公开(公告)日：

2018-12-28

发明(设计)人：

邵建达刘世杰王圣浩

申请人：

申请人地址：

201800 上海市嘉定区清河路390号

IPC主分类号：

G01N2155

IPC分类号：

代理机构：

上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31317

代理人：

张宁展

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-06-01	授权	授权
2018-12-28	公开	公开
2019-01-22	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/55 申请日:20180824

共 50 条

[1]

基于混沌激光的光学元件高反射率测量系统 [P].

王圣浩 ;

刘世杰 ;

李灵巧 ;

徐学科 ;

吴福林 ;

潘靖宇 ;

王微微 ;

徐天柱 ;

邵建达 .

中国专利 :CN112234420A ,2021-01-15

[2]

一种光学元件高透射率高反射率测量装置及测量方法 [P].

陈坚 ;

吴周令 .

中国专利 :CN113483996A ,2021-10-08

[3]

一种激光光学元件高反射率测量方法及装置 [P].

达争尚 ;

段亚轩 ;

李铭 ;

袁索超 ;

李红光 ;

陈永权 ;

董晓娜 .

中国专利 :CN112539920A ,2021-03-23

[4]

大口径光学元件透射率和反射率的测量装置和测量方法 [P].

张春香 ;

朱宝强 ;

唐顺兴 ;

缪洁 ;

高妍琦 ;

惠宏超 ;

郭亚晶 .

中国专利 :CN102062678A ,2011-05-18

[5]

大尺寸光学元件透射率和反射率测量装置 [P].

胡永明 ;

陈哲 ;

常胜利 ;

孟洲 ;

韩泽 .

中国专利 :CN2338738Y ,1999-09-15

[6]

一种反射率综合测量方法 [P].

李斌成 ;

曲哲超 ;

韩艳玲 .

中国专利 :CN102169050B ,2011-08-31

[7]

光学元件反射率测量仪 [P].

侯睿媛 ;

陆寅 ;

张帅楠 ;

戴晨 ;

权琨琪 ;

刘仁明 ;

陈贵宾 ;

卜阳 .

中国专利 :CN209167118U ,2019-07-26

[8]

曲面光学薄膜元件反射率测量方法 [P].

王银河 ;

宋光辉 ;

姚春龙 ;

刘海涛 ;

李明华 ;

李野 .

中国专利 :CN110646169A ,2020-01-03

[9]

高反镜反射率测量方法 [P].

李斌成 ;

龚元 .

中国专利 :CN1963435A ,2007-05-16

[10]

硅片反射率测量方法及其测量装置 [P].

陈全胜 ;

唐旱波 ;

刘尧平 ;

王燕 ;

杜小龙 .

中国专利 :CN110514627B ,2024-06-07

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