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一种光学元件高透射率高反射率测量装置及测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110815095.2
申请日
:
2021-07-19
公开(公告)号
:
CN113483996A
公开(公告)日
:
2021-10-08
发明(设计)人
:
陈坚
吴周令
申请人
:
申请人地址
:
230031 安徽省合肥市高新区望江西路800号动漫基地C4楼2层208室
IPC主分类号
:
G01M1102
IPC分类号
:
代理机构
:
合肥天明专利事务所(普通合伙) 34115
代理人
:
韩燕;金凯
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-10-26
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20210719
2021-10-08
公开
公开
2022-01-11
发明专利申请公布后的撤回
发明专利申请公布后的撤回 IPC(主分类):G01M 11/02 申请公布日:20211008
共 50 条
[1]
一种光学元件高透射率高反射率测量装置
[P].
陈坚
论文数:
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陈坚
;
吴周令
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吴周令
.
中国专利
:CN215893966U
,2022-02-22
[2]
光学元件高反射率测量系统和测量方法
[P].
邵建达
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邵建达
;
刘世杰
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刘世杰
;
王圣浩
论文数:
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王圣浩
.
中国专利
:CN109100330A
,2018-12-28
[3]
大尺寸光学元件透射率和反射率测量装置
[P].
胡永明
论文数:
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胡永明
;
陈哲
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陈哲
;
常胜利
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常胜利
;
孟洲
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0
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孟洲
;
韩泽
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韩泽
.
中国专利
:CN2338738Y
,1999-09-15
[4]
大口径光学元件透射率和反射率的测量装置和测量方法
[P].
张春香
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张春香
;
朱宝强
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朱宝强
;
唐顺兴
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唐顺兴
;
缪洁
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缪洁
;
高妍琦
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高妍琦
;
惠宏超
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惠宏超
;
郭亚晶
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郭亚晶
.
中国专利
:CN102062678A
,2011-05-18
[5]
一种激光光学元件高反射率测量方法及装置
[P].
达争尚
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达争尚
;
段亚轩
论文数:
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段亚轩
;
李铭
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李铭
;
袁索超
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袁索超
;
李红光
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李红光
;
陈永权
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陈永权
;
董晓娜
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董晓娜
.
中国专利
:CN112539920A
,2021-03-23
[6]
光学透射率测量装置及测量方法
[P].
C·J·范登博斯
论文数:
0
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机构:
哈克塞弗克斯控股有限公司
哈克塞弗克斯控股有限公司
C·J·范登博斯
.
:CN120769981A
,2025-10-10
[7]
一种提高高精度光学元件反射率/透射率的测量方法
[P].
周鹰
论文数:
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周鹰
;
冀轩亨
论文数:
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冀轩亨
;
赵斌兴
论文数:
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赵斌兴
;
王静
论文数:
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王静
;
孙启明
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孙启明
;
李斌成
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0
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李斌成
.
中国专利
:CN114264453A
,2022-04-01
[8]
一种测量透射率和反射率的光学测量仪及其测量方法
[P].
洪金龙
论文数:
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机构:
广东天行测量技术有限公司
广东天行测量技术有限公司
洪金龙
;
易淑鹏
论文数:
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机构:
广东天行测量技术有限公司
广东天行测量技术有限公司
易淑鹏
.
中国专利
:CN121207935A
,2025-12-26
[9]
一种高精度光学薄膜透射率或反射率测量方法及装置
[P].
谭中奇
论文数:
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谭中奇
;
全豫川
论文数:
0
引用数:
0
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0
全豫川
.
中国专利
:CN113008833A
,2021-06-22
[10]
高反镜反射率测量方法
[P].
李斌成
论文数:
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李斌成
;
龚元
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龚元
.
中国专利
:CN1963435A
,2007-05-16
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