一种光学元件高透射率高反射率测量装置及测量方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110815095.2
申请日
2021-07-19
公开(公告)号
CN113483996A
公开(公告)日
2021-10-08
发明(设计)人
陈坚 吴周令
申请人
申请人地址
230031 安徽省合肥市高新区望江西路800号动漫基地C4楼2层208室
IPC主分类号
G01M1102
IPC分类号
代理机构
合肥天明专利事务所(普通合伙) 34115
代理人
韩燕;金凯
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种光学元件高透射率高反射率测量装置 [P]. 
陈坚 ;
吴周令 .
中国专利 :CN215893966U ,2022-02-22
[2]
光学元件高反射率测量系统和测量方法 [P]. 
邵建达 ;
刘世杰 ;
王圣浩 .
中国专利 :CN109100330A ,2018-12-28
[3]
大尺寸光学元件透射率和反射率测量装置 [P]. 
胡永明 ;
陈哲 ;
常胜利 ;
孟洲 ;
韩泽 .
中国专利 :CN2338738Y ,1999-09-15
[4]
大口径光学元件透射率和反射率的测量装置和测量方法 [P]. 
张春香 ;
朱宝强 ;
唐顺兴 ;
缪洁 ;
高妍琦 ;
惠宏超 ;
郭亚晶 .
中国专利 :CN102062678A ,2011-05-18
[5]
一种激光光学元件高反射率测量方法及装置 [P]. 
达争尚 ;
段亚轩 ;
李铭 ;
袁索超 ;
李红光 ;
陈永权 ;
董晓娜 .
中国专利 :CN112539920A ,2021-03-23
[6]
光学透射率测量装置及测量方法 [P]. 
C·J·范登博斯 .
:CN120769981A ,2025-10-10
[7]
一种提高高精度光学元件反射率/透射率的测量方法 [P]. 
周鹰 ;
冀轩亨 ;
赵斌兴 ;
王静 ;
孙启明 ;
李斌成 .
中国专利 :CN114264453A ,2022-04-01
[8]
一种测量透射率和反射率的光学测量仪及其测量方法 [P]. 
洪金龙 ;
易淑鹏 .
中国专利 :CN121207935A ,2025-12-26
[9]
一种高精度光学薄膜透射率或反射率测量方法及装置 [P]. 
谭中奇 ;
全豫川 .
中国专利 :CN113008833A ,2021-06-22
[10]
高反镜反射率测量方法 [P]. 
李斌成 ;
龚元 .
中国专利 :CN1963435A ,2007-05-16