一种高精度光学薄膜透射率或反射率测量方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110144975.1

申请日：

2021-02-02

公开(公告)号：

CN113008833A

公开(公告)日：

2021-06-22

发明(设计)人：

谭中奇全豫川

申请人：

申请人地址：

410073 湖南省长沙市开福区德雅路109号

IPC主分类号：

G01N2147

IPC分类号：

G01N2159

代理机构：

长沙正务联合知识产权代理事务所(普通合伙) 43252

代理人：

吴婷

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-07-09	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/47 申请日:20210202
2021-06-22	公开	公开

共 50 条

[1]

一种提高高精度光学元件反射率/透射率的测量方法 [P].

周鹰 ;

冀轩亨 ;

赵斌兴 ;

王静 ;

孙启明 ;

李斌成 .

中国专利 :CN114264453A ,2022-04-01

[2]

一种光学元件高透射率高反射率测量装置及测量方法 [P].

陈坚 ;

吴周令 .

中国专利 :CN113483996A ,2021-10-08

[3]

一种用于测量荧光薄膜透射率或反射率光谱的测量方法 [P].

韩朝霞 ;

田程 ;

张大伟 ;

韩军强 ;

林辉 ;

洪瑞金 ;

陶春先 ;

黄元申 ;

黄卫佳 ;

倪争技 .

中国专利 :CN109946282B ,2019-06-28

[4]

曲面光学薄膜元件反射率测量方法 [P].

王银河 ;

宋光辉 ;

姚春龙 ;

刘海涛 ;

李明华 ;

李野 .

中国专利 :CN110646169A ,2020-01-03

[5]

一种基于光学干涉的光学薄膜反射率测量系统及测量方法 [P].

李成 ;

万震 ;

刘洋 .

中国专利 :CN114813048B ,2025-10-14

[6]

一种基于光学干涉的光学薄膜反射率测量系统及测量方法 [P].

李成 ;

万震 ;

刘洋 .

中国专利 :CN114813048A ,2022-07-29

[7]

一种高反射率光学薄膜制备方法及高反射率光学薄膜 [P].

郑亮亮 ;

汤文成 ;

陈名扬 ;

何悦祺 ;

王利新 .

中国专利 :CN120056405B ,2025-07-25

[8]

一种高反射率光学薄膜制备方法及高反射率光学薄膜 [P].

郑亮亮 ;

汤文成 ;

陈名扬 ;

何悦祺 ;

王利新 .

中国专利 :CN120056405A ,2025-05-30

[9]

大尺寸光学元件透射率和反射率测量装置 [P].

胡永明 ;

陈哲 ;

常胜利 ;

孟洲 ;

韩泽 .

中国专利 :CN2338738Y ,1999-09-15

[10]

一种光学元件高透射率高反射率测量装置 [P].

陈坚 ;

吴周令 .

中国专利 :CN215893966U ,2022-02-22

← 1 2 3 4 5 →