一种激光光学元件高反射率测量方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011366027.4

申请日：

2020-11-29

公开(公告)号：

CN112539920A

公开(公告)日：

2021-03-23

发明(设计)人：

达争尚段亚轩李铭袁索超李红光陈永权董晓娜

申请人：

申请人地址：

710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

G01M1100

代理机构：

西安智邦专利商标代理有限公司 61211

代理人：

王凯敏

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-03-23	公开	公开
2021-04-09	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20201129
2021-10-15	授权	授权

共 50 条

[1]

光学元件高反射率测量系统和测量方法 [P].

邵建达 ;

刘世杰 ;

王圣浩 .

中国专利 :CN109100330A ,2018-12-28

[2]

一种光学元件高透射率高反射率测量装置及测量方法 [P].

陈坚 ;

吴周令 .

中国专利 :CN113483996A ,2021-10-08

[3]

一种光学元件高透射率高反射率测量装置 [P].

陈坚 ;

吴周令 .

中国专利 :CN215893966U ,2022-02-22

[4]

基于混沌激光的光学元件高反射率测量系统 [P].

王圣浩 ;

刘世杰 ;

李灵巧 ;

徐学科 ;

吴福林 ;

潘靖宇 ;

王微微 ;

徐天柱 ;

邵建达 .

中国专利 :CN112234420A ,2021-01-15

[5]

一种反射率测量装置及测量方法 [P].

徐天熠 .

中国专利 :CN120908144A ,2025-11-07

[6]

光学元件反射率测量仪 [P].

侯睿媛 ;

陆寅 ;

张帅楠 ;

戴晨 ;

权琨琪 ;

刘仁明 ;

陈贵宾 ;

卜阳 .

中国专利 :CN209167118U ,2019-07-26

[7]

一种反射率综合测量方法 [P].

李斌成 ;

曲哲超 ;

韩艳玲 .

中国专利 :CN102169050B ,2011-08-31

[8]

高反镜反射率测量方法 [P].

李斌成 ;

龚元 .

中国专利 :CN1963435A ,2007-05-16

[9]

折射率测量方法、折射率测量装置及光学元件制造方法 [P].

杉本智洋 .

中国专利 :CN105339778A ,2016-02-17

[10]

高反射元件在连续激光辐照下反射率和吸收实时测量方法 [P].

崔浩 ;

樊峻棋 ;

张耀平 .

中国专利 :CN110411718A ,2019-11-05

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