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折射率测量方法、折射率测量装置及光学元件制造方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201480036869.X
申请日：
2014-06-18
公开(公告)号：
CN105339778A
公开(公告)日：
2016-02-17
发明(设计)人：
杉本智洋
申请人：
申请人地址：
日本东京
IPC主分类号：
G01N2145
IPC分类号：
G01M1100
代理机构：
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038
代理人：
程连贞
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2016-02-17 | 公开 | 公开 |
| 2016-03-16 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101650133593 IPC(主分类):G01N 21/45 专利申请号:201480036869X 申请日:20140618 |
| 2018-03-13 | 发明专利申请公布后的视为撤回 | 发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N 21/45 申请公布日:20160217 |