高反射元件在连续激光辐照下反射率和吸收实时测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910716817.1

申请日：

2019-08-05

公开(公告)号：

CN110411718A

公开(公告)日：

2019-11-05

发明(设计)人：

崔浩樊峻棋张耀平

申请人：

申请人地址：

610209 四川省成都市双流350信箱

IPC主分类号：

G01M1104

IPC分类号：

G01M1102

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-11-05	公开	公开
2022-04-08	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01M 11/04 申请公布日:20191105
2019-11-29	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/04 申请日:20190805

共 50 条

[1]

一种监测高反射光学元件在激光辐照下反射率实时变化的方法 [P].

李斌成 ;

曲哲超 ;

韩艳玲 .

中国专利 :CN102252828A ,2011-11-23

[2]

一种同时测量高反射/高透射光学元件的反射率、透过率、散射损耗和吸收损耗的方法 [P].

李斌成 ;

崔浩 ;

王静 ;

高椿明 .

中国专利 :CN107132029A ,2017-09-05

[3]

光学元件高反射率测量系统和测量方法 [P].

邵建达 ;

刘世杰 ;

王圣浩 .

中国专利 :CN109100330A ,2018-12-28

[4]

一种反射率综合测量方法 [P].

李斌成 ;

曲哲超 ;

韩艳玲 .

中国专利 :CN102169050B ,2011-08-31

[5]

一种基于光腔衰荡技术同时测量高反射/高透射光学元件的反射率和透过率的方法 [P].

李斌成 ;

崔浩 ;

王静 .

中国专利 :CN106556576A ,2017-04-05

[6]

高反镜反射率测量方法 [P].

李斌成 ;

龚元 .

中国专利 :CN1963435A ,2007-05-16

[7]

一种激光光学元件高反射率测量方法及装置 [P].

达争尚 ;

段亚轩 ;

李铭 ;

袁索超 ;

李红光 ;

陈永权 ;

董晓娜 .

中国专利 :CN112539920A ,2021-03-23

[8]

反射镜反射率的测量方法 [P].

许洪刚 ;

马洪涛 ;

韩冰 ;

金辉 .

中国专利 :CN112834462A ,2021-05-25

[9]

一种基于脉冲激光光源的反射率/透过率综合测量方法 [P].

李斌成 ;

祖鸿宇 ;

韩艳玲 .

中国专利 :CN103616164A ,2014-03-05

[10]

一种光学元件高透射率高反射率测量装置及测量方法 [P].

陈坚 ;

吴周令 .

中国专利 :CN113483996A ,2021-10-08

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