一种反射率综合测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201010608932.6

申请日：

2010-12-17

公开(公告)号：

CN102169050B

公开(公告)日：

2011-08-31

发明(设计)人：

李斌成曲哲超韩艳玲

申请人：

申请人地址：

610209 四川省成都市双流350信箱

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

代理机构：

北京科迪生专利代理有限责任公司 11251

代理人：

卢纪

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-08-08	授权	授权
2022-12-02	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20101217 授权公告日:20120808 终止日期:20211217
2011-08-31	公开	公开
2011-10-12	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101120310607 IPC(主分类):G01M 11/02 专利申请号:2010106089326 申请日:20101217

共 50 条

[1]

一种基于脉冲激光光源的反射率/透过率综合测量方法 [P].

李斌成 ;

祖鸿宇 ;

韩艳玲 .

中国专利 :CN103616164A ,2014-03-05

[2]

双波长高反射镜反射率测量方法 [P].

李斌成 ;

曲哲超 ;

韩艳玲 .

中国专利 :CN102128715B ,2011-07-20

[3]

光学元件高反射率测量系统和测量方法 [P].

邵建达 ;

刘世杰 ;

王圣浩 .

中国专利 :CN109100330A ,2018-12-28

[4]

高反镜反射率测量方法 [P].

李斌成 ;

龚元 .

中国专利 :CN1963435A ,2007-05-16

[5]

一种透过率和反射率测量仪及其测量方法 [P].

陈永权 ;

达争尚 ;

郑小霞 ;

张伟刚 ;

李铭 .

中国专利 :CN113776786A ,2021-12-10

[6]

反射镜反射率的测量方法 [P].

许洪刚 ;

马洪涛 ;

韩冰 ;

金辉 .

中国专利 :CN112834462A ,2021-05-25

[7]

硅片反射率测量方法及其测量装置 [P].

陈全胜 ;

唐旱波 ;

刘尧平 ;

王燕 ;

杜小龙 .

中国专利 :CN110514627B ,2024-06-07

[8]

硅片反射率测量方法及其测量装置 [P].

陈全胜 ;

唐旱波 ;

刘尧平 ;

王燕 ;

杜小龙 .

中国专利 :CN110514627A ,2019-11-29

[9]

一种用于光学元件反射率/透过率测量的综合测量装置 [P].

李斌成 ;

崔浩 ;

王静 .

中国专利 :CN106441817A ,2017-02-22

[10]

一种反射镜高反射率的测量方法 [P].

解金春 ;

盛新志 ;

孙福革 ;

戴东旭 ;

沙国河 .

中国专利 :CN1242516A ,2000-01-26

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