高反镜反射率测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200610165082.0

申请日：

2006-12-13

公开(公告)号：

CN1963435A

公开(公告)日：

2007-05-16

发明(设计)人：

李斌成龚元

申请人：

申请人地址：

610209四川省成都市双流350信箱

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

G01N2155

代理机构：

北京科迪生专利代理有限责任公司

代理人：

贾玉忠;卢纪

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-11-05	实质审查的生效	实质审查的生效
2016-01-27	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101644374367 IPC(主分类):G01M 11/02 专利号:ZL2006101650820 申请日:20061213 授权公告日:20110824 终止日期:20141213
2007-05-16	公开	公开
2011-08-24	授权	授权

共 50 条

[1]

一种高反镜反射率的测量方法 [P].

李斌成 ;

龚元 .

中国专利 :CN1804572A ,2006-07-19

[2]

一种小孔径高反镜反射率测量方法 [P].

李斌成 ;

祖鸿宇 ;

韩艳玲 .

中国专利 :CN103454074B ,2013-12-18

[3]

双波长高反射镜反射率测量方法 [P].

李斌成 ;

曲哲超 ;

韩艳玲 .

中国专利 :CN102128715B ,2011-07-20

[4]

反射镜反射率的测量方法 [P].

许洪刚 ;

马洪涛 ;

韩冰 ;

金辉 .

中国专利 :CN112834462A ,2021-05-25

[5]

一种反射率综合测量方法 [P].

李斌成 ;

曲哲超 ;

韩艳玲 .

中国专利 :CN102169050B ,2011-08-31

[6]

一种反射镜高反射率的测量方法 [P].

解金春 ;

盛新志 ;

孙福革 ;

戴东旭 ;

沙国河 .

中国专利 :CN1242516A ,2000-01-26

[7]

光学元件高反射率测量系统和测量方法 [P].

邵建达 ;

刘世杰 ;

王圣浩 .

中国专利 :CN109100330A ,2018-12-28

[8]

一种测量高反镜反射率的装置 [P].

周海波 ;

王坤阳 ;

黄瑜倩 ;

邵杰 .

中国专利 :CN206710071U ,2017-12-05

[9]

反射率测量装置 [P].

张立功 ;

李颜涛 ;

骆永石 .

中国专利 :CN112986190A ,2021-06-18

[10]

硅片反射率测量方法及其测量装置 [P].

陈全胜 ;

唐旱波 ;

刘尧平 ;

王燕 ;

杜小龙 .

中国专利 :CN110514627B ,2024-06-07

← 1 2 3 4 5 →