强辐射环境下的免校准温度测量方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201911309362.8

申请日：

2019-12-18

公开(公告)号：

CN111105886A

公开(公告)日：

2020-05-05

发明(设计)人：

洪振旻王浩宇姜磊张宇宏

申请人：

申请人地址：

518048 广东省深圳市福田区深南大道2002福中三路中广核大厦17层

IPC主分类号：

G21C17112

IPC分类号：

G01D1124 G01F23292 G01K108 G01K1132 G01L124

代理机构：

广州华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

赵潇君

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-05-05	公开	公开
2022-11-11	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G21C 17/112 申请公布日:20200505
2020-05-29	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G21C 17/112 申请日:20191218

共 50 条

[1]

一种光纤光栅温度测量方法及测量系统 [P].

祝连庆 ;

魏钰柏 ;

刘锋 ;

何巍 ;

闫光 ;

董明利 ;

娄小平 .

中国专利 :CN106840454A ,2017-06-13

[2]

测温仪及高温环境下的温度测量方法 [P].

谢自力 .

中国专利 :CN108489633A ,2018-09-04

[3]

温度测量装置及温度测量方法 [P].

严晓勇 ;

钟志华 ;

罗华林 .

中国专利 :CN113588120A ,2021-11-02

[4]

温度测量装置及温度测量方法 [P].

严晓勇 ;

钟志华 ;

罗华林 .

中国专利 :CN113588120B ,2025-02-28

[5]

一种强电离辐射环境下的温度测量方法及系统 [P].

杨俊亮 ;

张小威 ;

赵越 ;

朱晔 ;

李瑭 .

中国专利 :CN108387327B ,2024-02-13

[6]

一种强电离辐射环境下的温度测量方法及系统 [P].

杨俊亮 ;

张小威 ;

赵越 ;

朱晔 ;

李瑭 .

中国专利 :CN108387327A ,2018-08-10

[7]

温度测量方法及支持该温度测量方法的电子装置 [P].

郑贤俊 ;

李智勋 ;

赵申熙 .

韩国专利 :CN119998639A ,2025-05-13

[8]

温度测量装置及温度测量方法 [P].

清水兴子 .

中国专利 :CN104048771B ,2014-09-17

[9]

温度测量装置及温度测量方法 [P].

伊势居良仁 ;

村松真臣 ;

末松芳章 ;

吉田圭佑 ;

森芳宗 .

日本专利 :CN119422039A ,2025-02-11

[10]

一种日照辐射升温环境下的大气温度测量校准装置及方法 [P].

王田 ;

刘芝华 ;

罗利剑 ;

王泽祥 ;

张烜铭 .

中国专利 :CN117589336A ,2024-02-23

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